Аналіз математичної моделі збою логічного елемента із використанням моделі резистивно-їндуктивної завади
| dc.citation.epage | 75 | |
| dc.citation.issue | 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації | |
| dc.citation.journalTitle | Вісник Національного університету “Львівська політехніка” | |
| dc.citation.spage | 65 | |
| dc.contributor.affiliation | Національний університет "Львівська політехніка" | |
| dc.contributor.affiliation | Тернопільська академія народного господарства | |
| dc.contributor.author | Мандзій, Б. А. | |
| dc.contributor.author | Бенч, А. Я. | |
| dc.contributor.author | Васильцов, І. В. | |
| dc.coverage.placename | Львів | |
| dc.coverage.placename | Lviv | |
| dc.date.accessioned | 2020-03-26T10:56:30Z | |
| dc.date.available | 2020-03-26T10:56:30Z | |
| dc.date.created | 2001-03-27 | |
| dc.date.issued | 2001-03-27 | |
| dc.description.abstract | Розглянуто використання нової резиетивно-індуктивної моделі внутрішніх завад у кристалах інтегральних схем для побудови моделі збою логічного елемента. Досліджено вплив електричних параметрів логічного елемента, конструктивно-технологічних параметрів мікросхем та температури навколишнього середовища на ймовірність збою при перемиканні логічного елемента. | |
| dc.description.abstract | New model of resistance-inductance noise in VLSI chips was used to build model of soft faults of logical gate. Dependences of soft fault probability of single logical gate from electrical characteristic of logical gate, layout of integrated circuit and environment temperature had been investigated. | |
| dc.format.extent | 65-75 | |
| dc.format.pages | 11 | |
| dc.identifier.citation | Мандзій Б. А. Аналіз математичної моделі збою логічного елемента із використанням моделі резистивно-їндуктивної завади / Б. А. Мандзій, А. Я. Бенч, І. В. Васильцов // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації. — С. 65–75. | |
| dc.identifier.citationen | Mandzii B. A. Analiz matematychnoi modeli zboiu lohichnoho elementa iz vykorystanniam modeli rezystyvno-yinduktyvnoi zavady / B. A. Mandzii, A. Ya. Bench, I. V. Vasyltsov // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2002. — No 440 : Radioelektronika ta telekomunikatsii. — P. 65–75. | |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47864 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” | |
| dc.relation.ispartof | Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації, 2002 | |
| dc.relation.references | 1. Шубинский И.Б., Пивень Е. Н. Расчет надежности ЭВМ. - Киев: Тэхника, 1979. | |
| dc.relation.references | 2. Шубинский К. Б. Расчет надежности цифровых утсройств. - М; Знание, 1984. | |
| dc.relation.references | 3. Бобало Ю. Я., Капустій Б.О., Мандзїй Б.А. Функціональна надійність цифрових пристроїв.- Львів: Держуніверситет "Львівська політехніка", 1997. | |
| dc.relation.references | 4. Преснухин Л.Н., Щахнов В.А. Конструирование электронных вычислительных машин и систем. - М., Высш. шк., 1986. | |
| dc.relation.references | 5. Васильцов І. В. Розробка математичних моделей та програмних засобів оцінки показників функціональної надійності цифрових пристроїв: Дис. канд. тех. наук: 05.13.12.- Львів, 1998. | |
| dc.relation.references | 6. Васильцов І., Мандзїй Б., Бенч А. Розподіл напруги завади в матричних ВІС з ортогональною топологією шин живлення та заземлення // Вісник державного університету "Львівська політехніка". - 2001.-№415.- с.88-99. | |
| dc.relation.references | 7. Vasiltsov I., Mandziy В., Bench A. Distibution of the Noice Voltage in the Matrix VLSI with Orthogonal Topology o f Power Supply Feeding // Proceedings of the International Conference "The Experience of Design and Application of CAD Systems in Microelectrinics". -Lviv-Slavsko, 2001. - p.98. | |
| dc.relation.references | 8. Б. Мандзій, І.Васильцов, А.Бенч. Модель внутрішньої резистивно - індуктивної завади у кристалах мікросхем // Актуальні проблеми теоретичної електротехніки: наука і дидактика. Доповіді - Львів, 2001 - cт. 54-58. | |
| dc.relation.references | 9. Файзулаев Б.Н., Шагурин И.И, Кармазинскж А.Н. и др. Быстродействующие матричные БИС и СБИС. Теория и проектирование / Под общей редакцией Б.Н. Файзулаева и И.И. Шагурина - М.: Радио и связь, 1989. - 304 с. | |
| dc.relation.references | 10. Ю.Данилов Р.В., Ельцова С.А., Иванов Ю.П. и др. Применение интегральных микросхем в электронной вычислительной технике: Справочник/ Под ред. Б.Н. Файзулаева, Б.В. Тарабина.- М.: Радио и связь, 1986. | |
| dc.relation.referencesen | 1. Shubinskii I.B., Piven E. N. Raschet nadezhnosti EVM, Kiev: Tekhnika, 1979. | |
| dc.relation.referencesen | 2. Shubinskii K. B. Raschet nadezhnosti tsifrovykh utsroistv, M; Znanie, 1984. | |
| dc.relation.referencesen | 3. Bobalo Yu. Ya., Kapustii B.O., Mandzii B.A. Funktsionalna nadiinist tsyfrovykh prystroiv, Lviv: Derzhuniversytet "Lvivska politekhnika", 1997. | |
| dc.relation.referencesen | 4. Presnukhin L.N., Shchakhnov V.A. Konstruirovanie elektronnykh vychislitelnykh mashin i sistem, M., Vyssh. shk., 1986. | |
| dc.relation.referencesen | 5. Vasyltsov I. V. Rozrobka matematychnykh modelei ta prohramnykh zasobiv otsinky pokaznykiv funktsionalnoi nadiinosti tsyfrovykh prystroiv: Dys. kand. tekh. nauk: 05.13.12, Lviv, 1998. | |
| dc.relation.referencesen | 6. Vasyltsov I., Mandzii B., Bench A. Rozpodil napruhy zavady v matrychnykh VIS z ortohonalnoiu topolohiieiu shyn zhyvlennia ta zazemlennia, Visnyk derzhavnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2001.-No 415, P.88-99. | |
| dc.relation.referencesen | 7. Vasiltsov I., Mandziy V., Bench A. Distibution of the Noice Voltage in the Matrix VLSI with Orthogonal Topology o f Power Supply Feeding, Proceedings of the International Conference "The Experience of Design and Application of CAD Systems in Microelectrinics". -Lviv-Slavsko, 2001, p.98. | |
| dc.relation.referencesen | 8. B. Mandzii, I.Vasyltsov, A.Bench. Model vnutrishnoi rezystyvno - induktyvnoi zavady u krystalakh mikroskhem, Aktualni problemy teoretychnoi elektrotekhniky: nauka i dydaktyka. Dopovidi - Lviv, 2001 - ct. 54-58. | |
| dc.relation.referencesen | 9. Faizulaev B.N., Shahurin I.I, Karmazinskzh A.N. and other Bystrodeistvuiushchie matrichnye BIS i SBIS. Teoriia i proektirovanie, Pod obshchei redaktsiei B.N. Faizulaeva i I.I. Shahurina - M., Radio i sviaz, 1989, 304 p. | |
| dc.relation.referencesen | 10. Iu.Danilov R.V., Eltsova S.A., Ivanov Iu.P. and other Primenenie intehralnykh mikroskhem v elektronnoi vychislitelnoi tekhnike: Spravochnik/ ed. B.N. Faizulaeva, B.V. Tarabina, M., Radio i sviaz, 1986. | |
| dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2002 | |
| dc.rights.holder | © Мандзій Б. А., Бенч А. Я., Васильцов І. В., 2002 | |
| dc.subject.udc | 621.31 | |
| dc.title | Аналіз математичної моделі збою логічного елемента із використанням моделі резистивно-їндуктивної завади | |
| dc.type | Article |
Files
License bundle
1 - 1 of 1