Області застосування наближених методів аналізу дифракції на фазових гратках

Simple item page
dc.citation.epage183
dc.citation.issue532 : Електроніка
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.spage178
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.authorФітьо, В. М.
dc.contributor.authorПетровська, Г. А.
dc.contributor.authorМисак, В. В.
dc.contributor.authorFitio, V. M.
dc.contributor.authorPetrovska, H. A.
dc.contributor.authorMyssak, V. V.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.date.accessioned2020-03-20T07:36:33Z
dc.date.available2020-03-20T07:36:33Z
dc.date.created2005-03-01
dc.date.issued2005-03-01
dc.description.abstractМетодом зв’язаних хвиль розрахована дифракційна ефективність усіх порядків дифракції тонкої фазової ґратки з періодами, які дорівнюють 50,5, 75,5 і 100,5 довжин хвиль. Здійснено порівняння точного розрахунку з методом, що ґрунтується на розкладі періодичного амплітудного пропускання ґратки в ряд Фур’є. Визначено області застосування наближеного методу розрахунку дифракційної ефективності плоских ґраток. Для товстих фазових ґраток виконане порівняння дифракційної ефективності, розрахованої за формулою Когельника, з її точним значенням. Показано теоретично та експериментально, що формула Когельника дає похибку для високочастотних ґраток у разі відхилення від кута Брегга.
dc.description.abstractThe diffraction efficiency of all diffraction orders of thin phase gratings with periods of 50.5, 75.5 and 100.5 wavelength has been calculated by method of coupled waves. The comparison of a precise calculation and method, which based on the Fourier series expansion of the periodic amplitude transmission of grating is conducted. The application areas of the approximate calculation method for efficiency of plane gratings are determined. The comparison of the diffraction efficiency calculated by a Kogelnik’s equation and her accurate value is conducted for thick film. It is shown theoretically and experimentally that Kogelnik’s equation gives the error for high-frequency grating at deviation from a Bragg angle
dc.format.extent178-183
dc.format.pages6
dc.identifier.citationФітьо В. М. Області застосування наближених методів аналізу дифракції на фазових гратках / В. М. Фітьо, Г. А. Петровська, В. В. Мисак // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 532 : Електроніка. — С. 178–183.
dc.identifier.citationenFitio V. M. Application areas of the approximate methods for analysis of thin and volume phase gratings / V. M. Fitio, H. A. Petrovska, V. V. Myssak // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 532 : Elektronika. — P. 178–183.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47516
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 532 : Електроніка, 2005
dc.relation.references1. Гудмен Д.// Введение в Фурье-оптику. – М., 1970.
dc.relation.references2. Сулейменов И.Э., Толмачев Ю.А. // Оптика и спектроскопия. – 1994. – 76. – С. 999 – 1004.
dc.relation.references3. Anokhov S. P. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. – 2000. – 3. – P. 254–257.
dc.relation.references4. Кольер Р., Беркхарт К., Лин Л. // Оптическая голография. – М., 1973.
dc.relation.references5. Moharam M.G., E.B.Grann E.B., Pommet D. A., Gaylord T.K // J.Opt.Soc.Am. A.– 1996. – 13. – P.1068–1077.
dc.relation.references6. Lifeng Li // J.Opt.Soc.Am. A.– 1995. -12. – P.1870–1876.
dc.relation.references7. Lifeng Li // J.Opt.Soc.Am. A.– 2003. – 20. – P.655–660.
dc.relation.references8. Lifeng Li // J.Opt.Soc.Am. A.– 1996. – 13. – P.1024–1035.
dc.relation.references9. Popov E., Navière M.. // J.Opt.Soc.Am. A.– 2000. – 17. – P.1773–1784.
dc.relation.references10. Vallius T., // J.Opt.Soc.Am. A.– 2002. – 19. – P.1555–1562.
dc.relation.references11. Granet G., Guizal B. // J.Opt.Soc.Am. A.– 1996. – 13. – P.1019–1023.
dc.relation.references12. Фітьо В. М., Бобицький Я. В.// ВІСНИК Національного університету „Львівська політехніка”, сер. ЕЛЕКТРОНІКА. – 2004. – № 513. – С.203–213.
dc.relation.references13. Kogelnic H. // Bell Syst. Tech. J. – 1969. – 48. – P.2909 – 2947
dc.relation.references14. Fitio V. V., Bobitski Y. V // Optica Applicata. – 2001. – XXXI . – P. 669–780.
dc.relation.references15. Fitio V. M., Smirnova T. N. // Optics and spectroscopy. – 2004. – 96. – P.952–960.
dc.relation.references16. Индутный И.З., Костышин М.Т., Касярум О. П. и др. /Фотостимулированные взаимодействия в структурах металл-полупроводник. – К., 1992.
dc.relation.referencesen1. Hudmen D.// Vvedenie v Fure-optiku, M., 1970.
dc.relation.referencesen2. Suleimenov I.E., Tolmachev Iu.A., Optika i spektroskopiia, 1994, 76, P. 999 – 1004.
dc.relation.referencesen3. Anokhov S. P., Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2000, 3, P. 254–257.
dc.relation.referencesen4. Koler R., Berkkhart K., Lin L., Opticheskaia holohrafiia, M., 1973.
dc.relation.referencesen5. Moharam M.G., E.B.Grann E.B., Pommet D. A., Gaylord T.K, J.Opt.Soc.Am. A, 1996, 13, P.1068–1077.
dc.relation.referencesen6. Lifeng Li, J.Opt.Soc.Am. A, 1995. -12, P.1870–1876.
dc.relation.referencesen7. Lifeng Li, J.Opt.Soc.Am. A, 2003, 20, P.655–660.
dc.relation.referencesen8. Lifeng Li, J.Opt.Soc.Am. A, 1996, 13, P.1024–1035.
dc.relation.referencesen9. Popov E., Navière M.., J.Opt.Soc.Am. A, 2000, 17, P.1773–1784.
dc.relation.referencesen10. Vallius T.,, J.Opt.Soc.Am. A, 2002, 19, P.1555–1562.
dc.relation.referencesen11. Granet G., Guizal B., J.Opt.Soc.Am. A, 1996, 13, P.1019–1023.
dc.relation.referencesen12. Fito V. M., Bobytskyi Ya. V.// VISNYK Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", ser. ELEKTRONIKA, 2004, No 513, P.203–213.
dc.relation.referencesen13. Kogelnic H., Bell Syst. Tech. J, 1969, 48, P.2909 – 2947
dc.relation.referencesen14. Fitio V. V., Bobitski Y. V, Optica Applicata, 2001, XXXI , P. 669–780.
dc.relation.referencesen15. Fitio V. M., Smirnova T. N., Optics and spectroscopy, 2004, 96, P.952–960.
dc.relation.referencesen16. Indutnyi I.Z., Kostyshin M.T., Kasiarum O. P. and other /Fotostimulirovannye vzaimodeistviia v strukturakh metall-poluprovodnik, K., 1992.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2005
dc.rights.holder© Фітьо В. М., Петровська Г. А., Мисак В. В., 2005
dc.subject.udc621.315
dc.titleОбласті застосування наближених методів аналізу дифракції на фазових гратках
dc.title.alternativeApplication areas of the approximate methods for analysis of thin and volume phase gratings
dc.typeArticle

Files

License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
3.03 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Електроніка. – 2005. – №532