Електроенергетичні та електромеханічні системи. – 2003. – №487

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/37105

Вісник Національного університету «Львівська політехніка»

У Віснику публікуються результати науково-дослідних робіт професорсько-викладацького складу, співробітників і студентів Національного університету “Львівська політехніка” та інших ВНЗ і організацій України. Для наукових співробітників та інженерів, які спеціалізуються в галузі електроенергетики і електромеханіки.

Вісник Національного університету «Львівська політехніка» : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2003. – № 487 : Електроенергетичні та електромеханічні системи / відповідальний редактор О. Ю. Лозинський. – 228 с. : іл.

Browse

Filters

20032

Settings

Author: search.filters.author.Zarеbski, Janusz

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Modelling of the SIC Schottky diodes
    (Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2003) Zarеbski, Janusz
    In this paper the detailed form of SPICE macromodel of Infineon Technologies SiC Schottky diode is presented. This macromodel has been verified experimentally. The results of measurements and calculations performed by SPICE of SDB10S30 and SDP06S60 diodes are compared, as well.
  • Thumbnail Image
    Item
    Modelowanie wplywu temperatury na charakterystyki bramki TTL w programie SPICE
    (Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2003) Gorecki, Krzysztof; Zarеbski, Janusz
    In this paper the problem of TTL gates modelling in SPICE is considered. Some disadvantages of the built-in gate model is discussed and a new model of TTL inverter is proposed. In the new model the influence of the supply voltage and temperature on the characteristics and parameter values of TTL gate is taken into account. The theoretical considerations are illustrated by calculations and measurements.