Автоматика, вимірювання та керування. – 2004. – №500

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/8420

Вісник Національного університету "Львівська політехніка"

У віснику опубліковано статті, які відображають результати робіт у галузі вимірювань і засобів керування із застосуванням сучасної аналогової і цифрової техніки, зокрема мікропроцесорних систем. Для наукових працівників, викладачів, інженерів, які спеціалізуються в царині автоматики, систем керування, інформаційно-вимірювальної техніки, а також аспірантів, студентів старших курсів відповідних спеціальностей.

Вісник Національного університету "Львівська політехніка" / Міністерство освіти і науки України, Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2004. – № 500 : Автоматика, вимірювання та керування / відповідальний редактор В. Б. Дудикевич. – 176 с. : іл.

Browse

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Забезпечення метрологічної надійності вимірювань на постійному струмі
    (Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2004) Голюка, Б. М.; Лозбін, В. І.; Столярчук, П. Г.; Яцук, В. О.
    Описано метод оцінки метрологічної надійності вимірювань на постійному струмі. The created method of assessment metrological reliability of metering for continuous current.
  • Thumbnail Image
    Item
    Якість неруйнівного методу аналізу адгезійних зв’язків
    (Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2004) Столярчук, П. Г.; Сопрунюк, П. М.; Юзевич, В. М.
    Викладено теоретичні основи неруйнівного методу визначення енергетичних характеристик міжфазних шарів у системі металева підкладка – діелектрична плівка з урахуванням зондування поверхні розділу інфрачервоними променями. Обґрунтувано вищу якість запропонованого методу порівняно з руйнівним методом мікровтискування на основі порівняння кількості потенційно визначальних параметрів. Theoretical bases of nondestructive method of definition of power characteristics of interphase layers in system a metal substrate - a dielectric film are submitted in view of sounding an interface by infra-red beams. The substantiation of the first-rate quality of the offered method concerning a destroying method of microcave-in is resulted on the basis of comparison of number of potentially determined parameters.