Автоматика, вимірювання та керування. – 2013. – №753

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/23169

Збірник наукових праць

У віснику опубліковано статті, які відображають результати робіт у галузі вимірювань і засобів керування із застосуванням сучасної аналогової і цифрової техніки, зокрема мікропроцесорних систем. Для наукових працівників, викладачів, інженерів, які спеціалізуються в царині автоматики, систем керування, інформаційно-вимірювальної техніки, а також аспірантів, студентів старших курсів відповідних спеціальностей.

Вісник Національного університету "Львівська політехніка" / Міністерство освіти і науки України, Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор В. Б. Дудикевич. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2013. – № 753 : Автоматика, вимірювання та керування. – 168 с. : іл.

Browse

Author: search.filters.author.Совин, Я. Р.

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Визначення оптимальних параметрів генератора Голлманна за допомогою статистичних тестів NIST
    (Видавництво Львівської політехніки, 2013) Костів, Ю. М.; Максимович, В. М.; Гарасимчук, О. І.; Совин, Я. Р.; Мандрона, М. М.
    Наведено результати дослідження генератора Голлманна за різної кількості базових генераторів М-послідовностей і різних степенів їх поліномів, що проводилось з використанням статистичних тестів NIST. Отримані результати дають змогу оптимізу- вати параметри генератора за заданих параметрів вихідної імпульсної послідовності. The article presents the results of Gollmann generator estimation with a different number of basic LFSR generators, and different degrees of their polynomials, carried out with the use of NIST statistical tests. The received results allow to optimize the generator parameters at the given parameters of the output pulse sequence.
  • Thumbnail Image
    Item
    Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
    (Видавництво Львівської політехніки, 2013) Совин, Я. Р.; Наконечний, Ю. М.; Стахів, М. Ю.
    Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтро- лерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS за різних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of microcontroller’s hardware random number generator of family STM32F4XX with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS at the different values of clock rate. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators in cryptographic applications.