Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
No Thumbnail Available
Date
2013
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Львівської політехніки
Abstract
Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтро-
лерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS за
різних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці
генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у
криптографічних додатках. Testing of microcontroller’s hardware random number generator of family
STM32F4XX with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of
NIST STS at the different values of clock rate. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators in
cryptographic applications.
Description
Keywords
генератори випадкових чисел, тести NIST STS, STM32F4xx, random number generators, NIST STS tests, STM32F4xx
Citation
Совин Я. Р. Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, М. Ю. Стахів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2013. – № 753 : Автоматика, вимірювання та керування. – C. 37–44. – Бібліографія: 10 назв.