Mathematical Modeling And Computing. – 2014. – Vol. 1, No. 2

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/26453

Науково-технічний журнал

Засновник і видавець Національний університет «Львівська політехніка», Центр математичного моделювання Інституту прикладних проблем механіки і математики імені Я. С. Підстригача НАН України. Виходить двічі на рік з 2014 року.

Mathematical Modeling and Сomputing : [the scientific-technical journal] / Lviv Politechnic National University, Centre of mathematical Modeling of IAPMM hamed after Ya. S. Pidstryhach Ukrainian National Academy of Sciences ; editor-in-chief Yuriy Bobalo. – Lviv, 2014. – Volume 1, number 2. – P. 121–293, I p. : il.

Browse

Filters

20141

Settings

Author: search.filters.author.Chekurin, V. F.Subject: search.filters.subject.strained dielectrics

Search Results

Now showing 1 - 1 of 1
  • Thumbnail Image
    Item
    Integral photoelasticity relations for inhomogeneously strained dielectrics
    (Publishing House of Lviv Polytechnic National University, 2014) Chekurin, V. F.
    A model for interaction of polarized light with inhomogeneously strained non-magnetizable dielectric solid is considered in the paper. The model establishes ray photoelasticity integrals connecting distributions of strain tensor components on any direction on the body volume with measurable optical parameters of polarized light beam propagating in this direction. The model can be used for developing mathematical methods for polarized-optical computational tomography of stress-strained states of dielectric solids. Розглянуто модель взаємодiї поляризованого свiтла iз неоднорiдно деформованим немагнiтним дiелектричним тiлом. Встановленi променевi iнтеграли фотопружностi, якi пов’язують розподiли компонент тензора деформацiї у будь-якому напрямку в об’ємi тiла з вимiрювальними поляризацiйно-оптичними параметрами свiтлового променя, що поширюється у цьому напрямку. Модель можна використати для розроблення математичних методiв для поляризацiйно-оптичної обчислювальної томографiї напружено-деформованого стану дiелектричних тiл.