Електроніка. – 2007. – №592

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/3175

Вісник Національного університету "Львівська політехніка"

У Віснику опубліковані результати наукові-технічних досліджень у галузі технологічних, експериментальних, теоретичних та методологічних проблем електроніки та оптоелектроніки, фізики і техніки напівпровідників та напівпровідникового матеріалознавства, фізики твердого тіла, фізики, техніки та використання елементів, приладів та систем сучасної електронної техніки. Тематика Вісника Національного університету “Львівська політехніка” “Електроніка” охоплює такі розділи електроніки: матеріали електронної техніки; фізика, технологія та виробництво елементів, приладів та систем електронної техніки; фізика і техніка напівпровідників, металів, діелектриків та рідких кристалів; експериментальні та теоретичні дослідження електронних процесів; методика досліджень. У Віснику “Електроніка” публікуються оглядові та дослідницькі роботи, присвячені його тематиці (але не обмежені лише нею). Роботи можуть подавати як співробітники Львівської політехніки, так і будь-яких інших навчальних чи наукових закладів. Роботи авторів з України друкуються українською мовою. Для наукових працівників, інженерів і студентів старших курсів електрофізичних та технологічних спеціальностей.

Вісник Національного університету «Львівська політехніка» : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки України, Національний університет «Львівська політехніка» – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2007. – № 592 : Електроніка / відповідальний редактор Д. Заярчук. – 184 с. : іл.

Browse

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Технологія контролю геометрії оптичних поверхонь зразків із кристалічних матеріалів
    (Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2007) Вороняк, Т. І.; Юркевич, О. В.; Андрущак, А. С.
    На основі інтерферометра Маха-Цендера запропоновано технологію контролю геометрії поверхонь та оптичної неоднорідності зразків із кристалічних матеріалів. Ця технологія дає змогу проводити якісний і кількісний контроль геометрії оптичної поверхні кристалічного зразка, визначити величину клинеподібності протилежних граней та характер спотворень по всій апертурі хвильового фронту лазерного променя, що пройшов через досліджуваний зразок. Using Mach-Zehnder interferometer the technology for control of surface geometry and optical heterogeneity of crystal materials samples is proposed. This technology allows to carry out qualitative and quantitative control of optical surface geometry for crystal samples, to determine the value of opposite face wedging and wavefront aberration over the whole aperture for laser beam, which pass through the investigated sample.
  • Thumbnail Image
    Item
    Заповнення матриць лінійного електрооптичного ефекту в кристалах довільного класу симетрії. Апробація методу на прикладі кристалів ніобату літію
    (Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2007) Андрущак, А. С.; Мицик, Б. Г.; Дем'янишин, Н. М.; Кайдан, М. В.; Юркевич, О. В.
    Для інтерферометричного методу визначення коефіцієнтів лінійного електрооптичного ефекту отримані співвідношення, які дають змогу визначити всі компоненти тензора лінійного електрооптичного ефекту в кристалах будь-якого класу симетрії. На основі цих співвідношень виведені робочі формули і проведена апробація методу на прикладі кристалів ніобату літію. Отримані результати вимірювань всіх електрооптичних коефіцієнтів подано порівняно з відомими літературними даними. The relations that allow defining all tensor components of the linear electro-optical effect in the crystals of any symmetry class are presented for the offered modification of interferometric method of the linear electro-optical effect coefficients measurements. On the basis of these expressions the working formulas were derived and the approbation of this method was conducted on the example of lithium niobate crystals. The results of all electrooptical coefficients measurements are compared with the respective literature values.