(Видавництво Львівської політехніки, 2018-02-26) Колодій, З. О.; Крук, О. Г.; Kolodiy, Z.; Kruk, O.; Національний університет «Львівська політехніка»; Lviv Polytechnic National University
Наведено результати комп’ютерного моделювання власного шуму елемента електроніки (ЕЕ) для різних
моделей його внутрішньої структури. Наведено результати експериментальних досліджень власного шуму ЕЕ в діапазоні
низьких частот, які підтверджують результати комп’ютерного моделювання, а саме: вищий рівень шуму в діапазоні
низьких частот мають ті ЕЕ, у внутрішній структурі яких більше дефектів. Наведено аналітичний вираз енергетичного
спектра власного шуму ЕЕ, у якому параметр τ залежить від особливостей внутрішньої структури ЕЕ. Показано, що
виявлення потенційно ненадійних елементів можна здійснювати або за рівнем їхнього власного шуму в діапазоні низьких частот, або за значенням параметра τ.
