Вимірювальна техніка та метрологія

Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2123

Browse

Search Results

Now showing 1 - 1 of 1
  • Thumbnail Image
    Item
    Influence of the metallic impurities in A3B6 type layered semiconductors on their electrical, magnetic and structural properties
    (Видавництво Львівської політехніки, 2017-03-28) Середюк, Богдан; Seredyuk, Bohdan; National Academy of Land Forces named after Hetman Petro Sakhajdachnyj
    Проаналізовано перспективи застосування магніторезистивних структур на основі напівпровідникових кристалів типу InSe для прецизійного вимірювання магнітного поля. Розглянуто можливість застосування сенсорів магнітного поля на основі структури InSe для виявлення військової бронетехніки. Досліджено вплив домішок металів на шарувату структуру напівпровідникового матеріалу, як на сильний ковалентний зв’язок всередині шару, так і на слабкий ван-дер-ваальсовий зв’язок у міжшаровому просторі. Проаналізовано діаграми Боде для кристала InSe з домішками нікелю за різних температур – від кімнатної до температури рідкого азоту. Топологічні знімки поверхонь InSe з використанням методики атомно-силової спектроскопії підтверджують його шарувату структуру.