Вимірювальна техніка та метрологія
Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2123
Browse
3 results
Search Results
Item Means of measurement of relative quality indicators by immittance parameter(Видавництво Львівської політехніки, 2005-02-24) Pokhodylo, Yevgen; Yatsuk, Vasyl; Bubela, Tetiana; Lviv Polytechnic National UniversityThe paper describes the problems of implementation of the differential method of product quality assessment using the immittance method. The differential method of quality control is realized through a comparison of parameters of the immittance of the controlled and reference samples. The application of traditional meters of CLR-parameters complicates the process of the differential method implementation. Such units cannot directly measure relative quality. Virtually all models of such measuring instruments measure only the parameters of the monitored object through the input device. Thus, they are not adapted to the direct measurement of relative quality indicators. The authors propose to introduce a product pattern with the values of the code-controlled measure of admittance. These values are obtained by measuring the parameters of a standard pattern of products of a given quality level with a traditional immittance meter. The structure of the measuring instrument for the direct measurement of the relative quality index is given. The method is realized by comparing the parameters of the controlled object and the electrical standard pattern in the form of a code-controlled measure of admittance. This allows building quality control means for any nonelectrical products. Controlled products are supplied by electrical parameters of immittance with means of capacitive primary converters. Direct application of the differential method of quality assessment allows simplifying the measuring instrument as much as possible and reduce the time of product quality assessment. The proposed structure of the unit enables us to determine the deviation of the relative indicator from the value one. According to the obtained value of the indicator, products can be quickly classified by quality levels.Item Забезпечення метрологічної надійності вимірювальних систем у реальному масштабі часу(Видавництво Львівської політехніки, 2019-02-28) Яцук, В. О.; Яцук, Ю. В.; Yatsuk, Vasyl; Yatsuk, Yuriy; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National UniversityДля забезпечення придатності методів вимірювання та вимірювального обладнання кіберфізичних систем на основі мереж фізичних та обчислювальних компонентів, які взаємодіють, упроваджують системи керування вимірюваннями. Реалізувати методи оперативного контролювання параметрів вимірювальних каналів розпорошених кіберфізичних систем на основі традиційних підходів практично неможливо через необхідність демонтажу та повторного монтажу їх вимірювальних компонентів. Окрім того, не перевіряються метрологічно з’єднувальні лінії між сенсорами та вимірювальними каналами та між вимірювальними пристроями різної ієрархії. Реалізація ж методу оперативного контролювання на основі переносних кодокерованих мір пов’язана із необхідністю автоматичного коригування похибок для кожного зі значень встановлюваних кодів та суттєвим впливом параметрів комутаційних елементів; це можливо тільки за умови наявності прецизійної елементної бази для відтворення величини, однорідної з вимірюваною. Запропоновано реалізовувати оперативне контролювання вимірювальних каналів кіберфізичних систем на основі тестових методів, що дає можливість відстежувати зміни вимірюваної величини. Для швидкодії доцільно застосовувати просторове розділення вимірювальних каналів із коригуванням похибок. Запропоновано тривходову структуру вимірювального каналу напруги постійного струму та подано її функцію перетворення. Показано, що у випадку незначних змін вимірюваної величини результат вимірювання можна отримати за час одного циклу перетворення. Під час істотних змін вимірюваної величини за умови необхідності регулювання параметрів технологічного процесу в реальному масштабі часу можна визначати швидкість її зміни протягом трьох послідовних циклів перетворення та вибирати будь-яке із отриманих значень. Здійснений аналіз похибок показав, що метрологічні властивості вимірювальних каналів кіберфізичних систем визначаються лише параметрами однозначних зразкових мір електричних величин. Наголошено на можливості реалізації віддаленого калібрування у реальному масштабі часу каналів вимірювання напруги постійного струму за умови, що однозначна міра напруги є знімною та переносною і можна виконати корекцію її додаткових похибок.Item V Всеукраїнська науково-технічна конференція молодих вчених у царині метрології “Technical using of measurement-2019”(Видавництво Львівської політехніки, 2019-02-26) Яцук, В. О.; Yatsuk, Vasyl; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National UniversityПодано інформацію про V Всеукраїнську конференцію молодих вчених в царині метрології, яка відбулася 29 січня – 02 лютого 2019 року в Національному університеті “Львівська політехніка” (база “Політехнік-3” м. Славське). Конференцію провела кафедра інформаційно-вимірювальних технологій Львівської політехніки. Співорганізаторами конференції були: Академія метрології України, Національний університет “Львівська політехніка”, Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського”, державне підприємство “Науково-дослідний інститут метрології вимірювальних і управляючих систем” (“Система”). У роботі конференції взяли участь 84 українських та закордонних фахівців у галузі метрології, стандартизації, сертифікації та управління якістю, серед них були науковці, інженери, аспіранти та студенти з 19 вищих закладів освіти, установ та підприємств різних регіонів України. У резолюції конференції, зокрема, ухвалили використати її матеріали для покращення змісту відповідних навчальних програм, для формування тематики наукових досліджень, для зосередження уваги під час підготовки фахівців на практичних аспектах із активним використанням інформаційних технологій.