Вимірювальна техніка та метрологія
Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2123
Browse
Search Results
Item Метрологічна надійність термоелектричного наносенсора квантового еталона температури(Видавництво Львівської політехніки, 2018-02-26) Стадник, Б. І.; Яцишин, С. П.; Фрьоліх, Т.; Микийчук, М. М.; Луцик, Я. Т.; Скоропад, П. І.; Національний університет «Львівська політехніка»; Технічний університет, м. Ільменау, НімеччинаМожливість упровадження еталона квантової температури потребує зосередження уваги на перетворювальному елементі I–T як унікальному електронному пристрою, що підлягає істотним навантаженням під час роботи. Враховуючи його нанорозмірність, оскільки елемент виготовляють на основі CNTFET конструкції, трансформуючи її у нанорозмірний термоелектричний перетворювач (стік та витік) із надпровідним затвором, ми передбачаємо особливо жорсткі вимоги до цього елемента. Вирішити цю проблему можна із залученням інженерії еластичних напружень, яку раніше успішно застосовували для масштабування процесів виготовлення багатозатворних комплементарних польових транзисторів.