Jitter investigation in dual channel simultaneous sampling measurement methods

Loading...
Thumbnail Image

Date

2011

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Львівської політехніки

Abstract

Dual channel simultaneous sampling measurement methods of power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine the jitter in the validation procedure of a particular measurement method. The article concerns the Authors' research continuation, this time based on extended measurement setup for detailed jitter analysis, with two independent signal sources and A/D converter circuits. W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na wynlk pomiaru mocy, kąta fazowego, czy impedancji, może wywierać szum fazowy (jitter) przetwornika А/С. Oszacowanie wartości tego szumu jest zatem niezbędnym krokiem przy walidacji wybranej metody pomiarowej. W artykule przedstawiono wyniki kontynuowanych przez Autorów badań, w których tym razem, w celu przeprowadzenia szczegółowej analizy wykorzystano dwa niezależne żródła sygnałów i dwa układy przetworników А/С.

Description

Keywords

dual channel analog-digital conversion, jitter, phase noise, dwukanałowe przetwarzanie analogowo-cyfrowe, jitter, szum fazowy

Citation

Jóśko A. Jitter investigation in dual channel simultaneous sampling measurement methods / Adam Jóśko, Jerzy Olędzki // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 58. – Bibliography: 2 titles.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By