Дослідження об’ємних дефектів в діелектричній алюмомагнієвій кераміці методом позитронної анігіляційної спектроскопії

Abstract

Розглянуто методологічні можливості застосування методу позитронної анігіляційної спектроскопії (ПАС) для дослідження об’ємних дефектів в діелектричній алюмомагнієвій кераміці шпінельного типу MgAl2O4. Показано, що при математичній обробці ПАС спектра комп’ютерною програмою LT найкращі значення параметрів підгонки досягаються при трикомпонентній процедурі. Отримані результати підтверджують існування багатьох об’ємних дефектів у формі індивідуальних вакансій, вакансійно-подібних кластерів, нейтральних та негативно заряджених кластерів зарядно-компенсаційних вакансій, розміщених на границях зерен, а також об’ємних пор, що здатні захоплювати атоми позитронію. The methodological possibilities of positron annihilation lifetime spectroscopy (PALS) to investigation of magnesium aluminate spinel-type ceramics are considered. It is shown, that at mathematical treatment of PAL spectra by LT computer program, the best results of fitting parameters are achieved for three-component procedure. The obtained results confirms the existence of many extended defects in form of individual vacancies, vacancy-like clusters, neutral and negatively charged clusters of charge-compensating vacancies located at grainboundaries and volume pores, which can capture positronium atoms.