Вибір режиму сканування в телевізійно-оптичному відбивному мікроскопі
Loading...
Date
2004
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»
Abstract
Розглянуто режими сканування поверхні мікрооб’єкта за допомогою телевізійно-оптичного відбивного мікроскопа з метою вибору доцільного режиму з точки зору виявлення рельєфності поверхні. Modes of scanning of micro object relief by television-optical reflective microscope with the aim of reasonable mode choice with point visual show relief surface are considered in the paper.
Description
Keywords
Citation
Шклярський В. Вибір режиму сканування в телевізійно-оптичному відбивному мікроскопі / Володимир Шклярський // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2004. – № 508 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 131–134. – Бібліографія: 6 назв.