Особливості магнітної сприйнятливості ниткоподібних кристалів Si-Ge

Thumbnail Image

Date

2005-03-01

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”

Abstract

Досліджено магнітну сприйнятливість (МС) ниткоподібних кристалів (НК) Si1-хGeх (х = 0,01-0,05) при Т = 300 К в магнітних полях 0,3–4 кЕ. Досліджено субмікронні НК, які є квазіциліндричними кристалами, і кристали з d > 3 мкм, які є голкоподібними. Встановлено, що поведінка магнітної сприйнятливості НК різного діаметра істотно відрізняється від МС об’ємного матеріалу. Отримані значення МС ниткоподібних кристалів Si-Ge пояснено особливостями їх кристалічної структури і хімічного складу.
In the present work magnetic susceptibility (MS) of Si1-хGeх (х = 0,01-0,05) whiskers at T=300K in magnetic fields of 0,3-4 кOe were investigated. Submicron (quasicylindrical) and needdle-like whiskers with d > 3 m were under consideration. A behaviour of MS for the whiskers with various diameters was shown to differ substantially from that of bulk material. The observed values of MS for Si-Ge whiskers are explained by peculiarities of their crystal structure as well as chemical composition.

Description

Keywords

Citation

Особливості магнітної сприйнятливості ниткоподібних кристалів Si-Ge / В. М. Цмоць, П. Г. Литовченко, О. П. Литовченко, І. П. Островський, Ю. В. Павловський // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 532 : Електроніка. — С. 99–104.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By