Моделювання впливу паразитних міжелектродних ємностей у логарифмічних АЦП з накопиченням заряду з імпульсним зворотним зв’язком

Abstract

Запропоновано математичні моделі похибок логарифмічних АЦП з накопиченням заряду з імпульсним зворотним зв‘язком, наведено результати моделювання та дано оцінку точності. Предложены математические модели погрешностей логарифмических АЦП с накоплением заряда с импульсной обратной связью, приведены результаты моделирования и дана оценка точности. The mathematical models of errors of logarithmic ADC, based on accumulation of a charge and pulse feedback are offered, the results of modelling are presented and the valuation of accuracy are given.