Evaluation temperature stresses in microrefrigerating devices for radio-electronic equipment

Loading...
Thumbnail Image

Date

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Львівської політехніки

Abstract

The research paper reveals the method of reliability assessment of thermoregulation systems based on thermoelectric elements, allowing to take into account along with the electric strength of the elements material their mechanical stability in many cascade structures.

Description

Citation

Klepikovskii A. Evaluation temperature stresses in microrefrigerating devices for radio-electronic equipment / Andrei Klepikovskii, Oleksandr Shaiko-Shaikovskii, Oleg Borovik // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 466. – Bibliography: 2 titles.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By