Evaluation temperature stresses in microrefrigerating devices for radio-electronic equipment

dc.contributor.authorKlepikovskii, Andrei
dc.contributor.authorShaiko-Shaikovskii, Oleksandr
dc.contributor.authorBorovik, Oleg
dc.date.accessioned2012-08-22T13:44:05Z
dc.date.available2012-08-22T13:44:05Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractThe research paper reveals the method of reliability assessment of thermoregulation systems based on thermoelectric elements, allowing to take into account along with the electric strength of the elements material their mechanical stability in many cascade structures.uk_UA
dc.identifier.citationKlepikovskii A. Evaluation temperature stresses in microrefrigerating devices for radio-electronic equipment / Andrei Klepikovskii, Oleksandr Shaiko-Shaikovskii, Oleg Borovik // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 466. – Bibliography: 2 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/13828
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectRadio technical devicesuk_UA
dc.subjectthermoregulation systemsuk_UA
dc.subjectthermoelectric elementsuk_UA
dc.subjectmechanical stressesuk_UA
dc.subjectPeltier elementsuk_UA
dc.subjecttemperature oscillationuk_UA
dc.titleEvaluation temperature stresses in microrefrigerating devices for radio-electronic equipmentuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
333.pdf
Size:
46.31 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
2.06 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: