Вплив електронного опромінення на ниткоподібні кристали кремнію і твердого розчину Si-Ge

Loading...
Thumbnail Image

Date

2011

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Львівської політехніки

Abstract

Досліджено вплив електронного опромінення на низькотемпературну провідність і магнетоопір ниткоподібних кристалів (НК) кремнію і Si1-xGex (х=0,03) р-типу з концентрацією бору поблизу переходу метал-діелектрик (ПМД). Спостерігається кореляція між впливом електронного опромінення на опір і магнетоопір кристалів за кріогенних температур. Виконані вимірювання свідчать про радіаційну стійкість досліджених НК Si та Si1-xGex до дії опромінення високоенергетичними електронами з флюенсом Ф£1´1017ел/см2. Influence of electron irradiation on low temperature conductivity and magnetoresistance of р-type silicon and Si1-xGex (х=0,03) whiskers with boron concentration in the vicinity of metal-insulator transition (MIT) have been studied. Correlation between influence of electron irradiation on crystal resistance and magnetoresistance at cryogenic temperatures was observed. These studies show the stability of investigated Si and Si1-xGex whiskers to irradiation by high energy electrons with fluencies Ф£1´1017еl/cm2.

Description

Keywords

електронне опромінення, низькотемпературна провідність, магнетоопір ниткоподібних кристалів (НК) кремнію і Si1-xGex (х=0,03) р-типу, electron irradiation, low-temperature conductivity, magnetoresistance of Si whiskers and Si1-xGex p-type

Citation

Вплив електронного опромінення на ниткоподібні кристали кремнію і твердого розчину Si-Ge / І. Й. Мар’ямова, І. П. Островський, Ю. М. Ховерко, О. П. Кутраков, І. Т. Когут, Н. С. Лях-Кагуй // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2011. – № 708 : Електроніка. – С. 145–150. – Бібліографія: 7 назв.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By