Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS

Loading...
Thumbnail Image

Date

2012

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Львівської політехніки

Abstract

Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of hardware random number generator of microcontrollers STM32F4XX family with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators for cryptographic applications.

Description

Keywords

генератори випадкових чисел, тести NIST STS, STM32F4xx, random number generators, NIST STS tests

Citation

Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, В. М. Чінка, І. Я. Тишик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2012. – № 745 : Комп’ютерні системи та мережі. – С. 168–175. – Бібліографія: 10 назв.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By