Сфери застосування та вимоги до основних характеристик проблемно-орієнтованих засобів вимірювання імітансу
| dc.citation.epage | 51 | |
| dc.citation.issue | 66 | |
| dc.citation.journalTitle | Вимірювальна техніка та метрологія | |
| dc.citation.spage | 43 | |
| dc.contributor.affiliation | Національний університет “Львівська політехніка” | |
| dc.contributor.affiliation | Політехніка Опольська | |
| dc.contributor.author | Хома, Володимир | |
| dc.coverage.placename | Львів | |
| dc.coverage.placename | Lviv | |
| dc.date.accessioned | 2020-04-03T08:51:46Z | |
| dc.date.available | 2020-04-03T08:51:46Z | |
| dc.date.created | 2006-01-31 | |
| dc.date.issued | 2006-01-31 | |
| dc.description.abstract | Розглянуто прикладні задачі імітансного контролю. Подано класифікацію досліджуваних об’єктів за принципом формування вимірювального сигналу. Це дало змогу виділити характерні класи задач та сформулювати вимоги до основних характеристик проблемно-орієнтованих засобів вимірювання імітансу. | |
| dc.description.abstract | Applied tasks of immitance control are considered. Classification of investigated objects based on principle creation of measuring signal is shown. This allows to identify typical task categories and to formulate the requirements of major characteristics of problem-oriented immitance measuring instruments. | |
| dc.description.abstract | Рассмотрены прикладные задачи иммитансного контроля. Приведена классификация исследуемых объектов за принципом формирования измерительного сигнала. Это позволило выделить характерные классы задач и сформулировать требования к основным характеристикам проблемно-ориентированных средств измерения иммитанса. | |
| dc.format.extent | 43-51 | |
| dc.format.pages | 9 | |
| dc.identifier.citation | Хома В. Сфери застосування та вимоги до основних характеристик проблемно-орієнтованих засобів вимірювання імітансу / Володимир Хома // Вимірювальна техніка та метрологія. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2006. — № 66. — С. 43–51. | |
| dc.identifier.citationen | Khoma V. Sfery zastosuvannia ta vymohy do osnovnykh kharakterystyk problemno-oriientovanykh zasobiv vymiriuvannia imitansu / Volodimir Khoma // Vymiriuvalna tekhnika ta metrolohiia. — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2006. — No 66. — P. 43–51. | |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/48076 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” | |
| dc.relation.ispartof | Вимірювальна техніка та метрологія, 66, 2006 | |
| dc.relation.references | 1. Абубакиров Б. А., Гудков К. Г., Нечаев Э. В. Измерение параметров радиотехнических цепей . – М., 1984. | |
| dc.relation.references | 2. Батавин В.В., Концевой Ю.А., Федорович Ю.В. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур. – М., 1985. | |
| dc.relation.references | 3. Заринский В.А., Ермаков В.И. Высокочастотный химический анализ. – М. 1970. | |
| dc.relation.references | 4. Исследование объектов с помощью пикосекундных импульсов ./ Под ред. Г.В. Глебовича. – М., 1984. | |
| dc.relation.references | 5. Кнеллер В.Ю., Боровских Л.П. Определение параметров многоэлементных двухполюсников. – М., 1986. | |
| dc.relation.references | 6. Колосов С.П., Сидоров Ю.А. Нелинейные двухполюсники и четырехполюсники. – М., 1981. | |
| dc.relation.references | 7. Лихтциндер Б.Я. Автоматизация поэлементного контроля многополюсных электрический цепей // Измерения, контроль, автоматизация. – 1983. – №3. – С.14–24. | |
| dc.relation.references | 8. Ронкин М.А., Шалыгин В.С., Пироженко А.В. и др. Компьютерная реография // Биомедицинские технологии и радиоэлектроника. – 2002. – №8. – С.17–28. | |
| dc.relation.references | 9. Сигорский В.П. Методы анализа электрических цепей с многополюсными элементами. – Киев, 1958. | |
| dc.relation.references | 10. Хома В.В. Електричне зміщення досліджуваних об’єктів в активних перетворювачах “імітанс-напруга” // Технічні вісті. – 1999. – № 1(8), 2(9). – С.54–57. | |
| dc.relation.references | 11. Хома В.В. Принципи побудови та функціонування комп’ютерної системи імітансного контролю // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2001. – №4. – С.108-112. | |
| dc.relation.references | 12. Хома В.В. Улучшение характеристик измерителей составляющих иммитанса для средств параметрического контроля полупроводниковых структур: Автореф. дис… канд. техн. наук: 05.11.05 / ЛПИ. – Львов: 1989. | |
| dc.relation.references | 13. Huang S.M. et al. Tomographic imaging of industrial process equipment – design of capacitance sensing electronics for oil and gas based processes // Tomographic Techniques. – 1993. – Р.117–202. | |
| dc.relation.references | 14. Kneller V. Development trends and problems in A.C. circuit parameters measurements In:Proc. of the XIV IMEKO World Congress. Tampere (Finland). – 1997. – Vol. 4A. – P.183–188. | |
| dc.relation.references | 15. Test & Measurement // Catalogue Hewlett Packard.- 1999.- 627 p. | |
| dc.relation.references | 16. Riu P., Rosell J., Lozano A., Pallas-Areny R. Impedance Spectroscopy System Based on Electrical Impedance Tomography Measurements // World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering. – Rio de Janeiro (Brazil). – 1994. – P. 600–612. | |
| dc.relation.referencesen | 1. Abubakirov B. A., Hudkov K. H., Nechaev E. V. Izmerenie parametrov radiotekhnicheskikh tsepei , M., 1984. | |
| dc.relation.referencesen | 2. Batavin V.V., Kontsevoi Iu.A., Fedorovich Iu.V. Izmerenie parametrov poluprovodnikovykh materialov i struktur, M., 1985. | |
| dc.relation.referencesen | 3. Zarinskii V.A., Ermakov V.I. Vysokochastotnyi khimicheskii analiz, M. 1970. | |
| dc.relation.referencesen | 4. Issledovanie obieektov s pomoshchiu pikosekundnykh impulsov ./ ed. H.V. Hlebovicha, M., 1984. | |
| dc.relation.referencesen | 5. Kneller V.Iu., Borovskikh L.P. Opredelenie parametrov mnohoelementnykh dvukhpoliusnikov, M., 1986. | |
| dc.relation.referencesen | 6. Kolosov S.P., Sidorov Iu.A. Nelineinye dvukhpoliusniki i chetyrekhpoliusniki, M., 1981. | |
| dc.relation.referencesen | 7. Likhttsinder B.Ia. Avtomatizatsiia poelementnoho kontrolia mnohopoliusnykh elektricheskii tsepei, Izmereniia, kontrol, avtomatizatsiia, 1983, No 3, P.14–24. | |
| dc.relation.referencesen | 8. Ronkin M.A., Shalyhin V.S., Pirozhenko A.V. and other Kompiuternaia reohrafiia, Biomeditsinskie tekhnolohii i radioelektronika, 2002, No 8, P.17–28. | |
| dc.relation.referencesen | 9. Sihorskii V.P. Metody analiza elektricheskikh tsepei s mnohopoliusnymi elementami, Kiev, 1958. | |
| dc.relation.referencesen | 10. Khoma V.V. Elektrychne zmishchennia doslidzhuvanykh obiektiv v aktyvnykh peretvoriuvachakh "imitans-napruha", Tekhnichni visti, 1999, No 1(8), 2(9), P.54–57. | |
| dc.relation.referencesen | 11. Khoma V.V. Pryntsypy pobudovy ta funktsionuvannia kompiuternoi systemy imitansnoho kontroliu, Vymiriuvalna ta obchysliuvalna tekhnika v tekhnolohichnykh protsesakh, 2001, No 4, P.108-112. | |
| dc.relation.referencesen | 12. Khoma V.V. Uluchshenie kharakteristik izmeritelei sostavliaiushchikh immitansa dlia sredstv parametricheskoho kontrolia poluprovodnikovykh struktur: Avtoref. dis… kand. tekhn. nauk: 05.11.05, LPI, Lvov: 1989. | |
| dc.relation.referencesen | 13. Huang S.M. et al. Tomographic imaging of industrial process equipment – design of capacitance sensing electronics for oil and gas based processes, Tomographic Techniques, 1993, R.117–202. | |
| dc.relation.referencesen | 14. Kneller V. Development trends and problems in A.C. circuit parameters measurements In:Proc. of the XIV IMEKO World Congress. Tampere (Finland), 1997, Vol. 4A, P.183–188. | |
| dc.relation.referencesen | 15. Test & Measurement, Catalogue Hewlett Packard, 1999, 627 p. | |
| dc.relation.referencesen | 16. Riu P., Rosell J., Lozano A., Pallas-Areny R. Impedance Spectroscopy System Based on Electrical Impedance Tomography Measurements, World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering, Rio de Janeiro (Brazil), 1994, P. 600–612. | |
| dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2006 | |
| dc.rights.holder | © Хома Володимир, 2006 | |
| dc.subject.udc | 621.317.73 | |
| dc.title | Сфери застосування та вимоги до основних характеристик проблемно-орієнтованих засобів вимірювання імітансу | |
| dc.type | Article |
Files
License bundle
1 - 1 of 1