Оцінка полів розсіювання параметрів радіоелектронних пристроїв при їх квазінормальних розподілах

dc.contributor.authorЛазько, Оксана
dc.contributor.authorНедоступ, Леонід
dc.contributor.authorБобало, Юрій
dc.date.accessioned2017-03-31T13:18:24Z
dc.date.available2017-03-31T13:18:24Z
dc.date.issued2000
dc.description.abstractУ статті розглянуто вплив нестабільності процесів виробництва компонентів радіоелектронної апаратури на характеристики розподілів їх вихідних параметрів. Пропонується метод оцінки похибки визначення полів розсіювання параметрів при квазінормальних розподілах. At the paper the influence of components production process nonstability on theirs output distributions characteristics. The parameters scattering fields determination error estimation method due to quasi-normal distributions is proposed.uk_UA
dc.identifier.citationЛазько О. Оцінка полів розсіювання параметрів радіоелектронних пристроїв при їх квазінормальних розподілах / Оксана Лазько, Леонід Недоступ, Юрій Бобало // Вісник Державного університету «Львівська політехніка». – 2000. – № 399 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 174–180. – Бібліографія: 7 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/37068
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Державного університету “Львівська політехніка”uk_UA
dc.titleОцінка полів розсіювання параметрів радіоелектронних пристроїв при їх квазінормальних розподілахuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
33_174-180.pdf
Size:
227.04 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: