The short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride

dc.citation.epage104
dc.citation.issue740 : Фізико-математичні науки
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.spage100
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.affiliationNational University “Lvivska Politechnika”
dc.contributor.affiliationНациональный университет “Львивська политехника”
dc.contributor.authorМалик, О. П.
dc.contributor.authorКеньо, Г. В.
dc.contributor.authorMalyk, O. P.
dc.contributor.authorKenyo, G. V.
dc.contributor.authorМалик, О. П.
dc.contributor.authorКеньо, Г. В.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.date.accessioned2020-03-12T09:14:30Z
dc.date.available2020-03-12T09:14:30Z
dc.description.abstractРозглянуто процеси розсіяння електронів на близькодіючому потенціалі, обумовленому взаємодією з полярними та неполярними оптичними фононами, п’єзоелектричними та акустичними фононами, полем статичної деформації, іонізованими та нейтральними домішками в зразку ІпМ зі структурою вюртциту та з концентрацією електронів ~ 6 х 1017см_3. Розраховано температурну залежність рухливості електронів в інтервалі 4.2 — 560 К.
dc.description.abstractThe processes of the electron scattering on the short-range potential caused by interaction with polar and nonpolar optical phonons, piezoelectric and acoustic phonons, static strain, neutral and ionized impurities in wurtzite InN sample with electron concentration ~ 6 x 1017 cm~3 are considered. The temperature dependence of the electron mobility in the temperature range 4.2 — 560 K is calculated.
dc.description.abstractРассмотрены процессы россеяния электронов на близкодействующем потенциале, обусловленном взаимодействием с полярными и неполярными оптическими фононами, пьезоэлектрическими и акустическими фононами, статической деформации, нейтральной и заряженной примеси в образцах СаМ со структурой вюртцита и концентрацией электронов ~ 6 х 1017см_3. Рассчитана температурная зависимость подвижности электронов в интервале 4.2 — 560 К.
dc.format.extent100-104
dc.format.pages5
dc.identifier.citationMalyk O. P. The short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride / O. P. Malyk, G. V. Kenyo // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. — № 740 : Фізико-математичні науки. — С. 100–104.
dc.identifier.citationenMalyk O. P. The short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride / O. P. Malyk, G. V. Kenyo // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2012. — No 740 : Fizyko-matematychni nauky. — P. 100–104.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47229
dc.language.isoen
dc.publisherВидавництво Львівської політехніки
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 740 : Фізико-математичні науки, 2012
dc.relation.references[1] Look D.C., Lu H., Scha- W.J., Jansinski J., Liliental-Weber Z. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 80. - Ð.258-260.
dc.relation.references[2] Ikuta K., Inoue Y., Takai O. // Thin Solid Films. -1998. - 334. - P.49-53.
dc.relation.references[3] Davydov V.Yu. et al. // Phys. Status Solidi B. - 2002. - 229. - R1.
dc.relation.references[4] Kasic A., Schubert M., Saito Y., Nanishi Y., Wagner G. // Phys. Rev. B. - 2002. - 65. - 115206.
dc.relation.references[5] Wu J. et al. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 80. - P.3967-3969.
dc.relation.references[6] Jain S.C., Willander M., Narayan J., Van Overstraeten R. // J. Appl. Phys. - 2000. - 87. - P.965-1006.
dc.relation.references[7] Matsuoka T., Okamoto H., Nakao M., Harima H., Kurimoto E. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 81. - P.1246-1248.
dc.relation.references[8] Nag B.R. // J. Cryst. Growth. - 2004. - 269. - P.35-40.
dc.relation.references[9] O'Leary S.K., Foutz B.E., Shur M.S., Bhapkar U.V., Eastman L.F. // J. Appl. Phys. - 1998. - 83. - P.826-829.
dc.relation.references[10] Thakur J.S., Naik R., Naik V.M., Haddad D., Auner G.W., Lu H., Scha- W.J. // J. Appl. Phys. - 2006. - 99. - 023504.
dc.relation.references[11] Malyk O.P. // Mater. Sci. & Engineering B. - 2006. - 129. - P.161-171.
dc.relation.references[12] O.P .Malyk // Phys. Status Solidi C. - 2009. - 6. - P.S86-S89.
dc.relation.references[13] Malyk O.P. // Physica B:Condensed Matter. - 2009. -404. - P.5022-5024.
dc.relation.references[14] Malyk O.P. // Phys. Status Solidi C. - 2012. - 9. -P.842-846.
dc.relation.references[15] Malyk O.P. // Diamond Relat. Mater. - 2012. - 23. -P.23-27.
dc.relation.references[16] Malyk O.P. // WSEAS Trans. Math. - 2004. - 3. - P.354- 357.
dc.relation.references[17] Chin V.W.L., Tansley T.L. and Osotchan T. // J. Appl. Phys. - 1994.- 75. - P.7365-7372.
dc.relation.references[18] Wu J., Walukiewicz W., Shan W., Yu K.M., Ager J.W. et al. // J. Appl. Phys. 2003. - 94. - P.4457-4460.
dc.relation.references[19] Morkoc H. Nitride semiconductors and devices. StateBerlin, CityplaceHeidelberg, StateNew York: Springer; 1999.
dc.relation.references[20] Blacha A., Presting H., Cardona M. // Phys. Stat. Sol.(b). - 1984. - 126. - P.11-36.
dc.relation.references[21] Aydogu S., Ozbas O. // Mater. Sci. Semicond. Proc. - 2005. - 8. - D.536-539.
dc.relation.references[22] Rodridgues C.G., Freire V.N., Vasconcellos A.R., Luzzi R. // Mater. Res. - 2002. - 6. - P.1-4.
dc.relation.references[23] Bechstedt F., Furthmuller J., Ferhat M., Teles L.K., Scolfaro L.M.R. et al // Phys Stat Sol.(a). - 2003. - 195. - P.628-633.
dc.relation.referencesen[1] Look D.C., Lu H., Scha- W.J., Jansinski J., Liliental-Weber Z., Appl. Phys. Lett, 2002, 80, Ð.258-260.
dc.relation.referencesen[2] Ikuta K., Inoue Y., Takai O., Thin Solid Films. -1998, 334, P.49-53.
dc.relation.referencesen[3] Davydov V.Yu. et al., Phys. Status Solidi B, 2002, 229, R1.
dc.relation.referencesen[4] Kasic A., Schubert M., Saito Y., Nanishi Y., Wagner G., Phys. Rev. B, 2002, 65, 115206.
dc.relation.referencesen[5] Wu J. et al., Appl. Phys. Lett, 2002, 80, P.3967-3969.
dc.relation.referencesen[6] Jain S.C., Willander M., Narayan J., Van Overstraeten R., J. Appl. Phys, 2000, 87, P.965-1006.
dc.relation.referencesen[7] Matsuoka T., Okamoto H., Nakao M., Harima H., Kurimoto E., Appl. Phys. Lett, 2002, 81, P.1246-1248.
dc.relation.referencesen[8] Nag B.R., J. Cryst. Growth, 2004, 269, P.35-40.
dc.relation.referencesen[9] O'Leary S.K., Foutz B.E., Shur M.S., Bhapkar U.V., Eastman L.F., J. Appl. Phys, 1998, 83, P.826-829.
dc.relation.referencesen[10] Thakur J.S., Naik R., Naik V.M., Haddad D., Auner G.W., Lu H., Scha- W.J., J. Appl. Phys, 2006, 99, 023504.
dc.relation.referencesen[11] Malyk O.P., Mater. Sci. & Engineering B, 2006, 129, P.161-171.
dc.relation.referencesen[12] O.P .Malyk, Phys. Status Solidi C, 2009, 6, P.S86-S89.
dc.relation.referencesen[13] Malyk O.P., Physica B:Condensed Matter, 2009. -404, P.5022-5024.
dc.relation.referencesen[14] Malyk O.P., Phys. Status Solidi C, 2012, 9. -P.842-846.
dc.relation.referencesen[15] Malyk O.P., Diamond Relat. Mater, 2012, 23. -P.23-27.
dc.relation.referencesen[16] Malyk O.P., WSEAS Trans. Math, 2004, 3, P.354- 357.
dc.relation.referencesen[17] Chin V.W.L., Tansley T.L. and Osotchan T., J. Appl. Phys, 1994, 75, P.7365-7372.
dc.relation.referencesen[18] Wu J., Walukiewicz W., Shan W., Yu K.M., Ager J.W. et al., J. Appl. Phys. 2003, 94, P.4457-4460.
dc.relation.referencesen[19] Morkoc H. Nitride semiconductors and devices. StateBerlin, CityplaceHeidelberg, StateNew York: Springer; 1999.
dc.relation.referencesen[20] Blacha A., Presting H., Cardona M., Phys. Stat. Sol.(b), 1984, 126, P.11-36.
dc.relation.referencesen[21] Aydogu S., Ozbas O., Mater. Sci. Semicond. Proc, 2005, 8, D.536-539.
dc.relation.referencesen[22] Rodridgues C.G., Freire V.N., Vasconcellos A.R., Luzzi R., Mater. Res, 2002, 6, P.1-4.
dc.relation.referencesen[23] Bechstedt F., Furthmuller J., Ferhat M., Teles L.K., Scolfaro L.M.R. et al, Phys Stat Sol.(a), 2003, 195, P.628-633.
dc.rights.holder© Національний університет „Львівська політехніка“, 2012
dc.subjectявища переносу
dc.subjectрозсіяння носіїв заряду
dc.subjectнітрид Індію
dc.subjecttransport phenomena
dc.subjectcharge carrier scattering
dc.subjectindium nitride
dc.subjectявления переноса
dc.subjectрассеяние носителей заряда
dc.subjectнитрид индия
dc.subject.udc621.315.592
dc.titleThe short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride
dc.title.alternativeПринцип близькодії в теорії розсіяння електронів в нітриді індію
dc.title.alternativeПринцип близкодействия в теории рассеяния электронов в нитриде индия
dc.typeArticle

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
2012n740_Malyk_O_P-The_short_range_principle_100-104.pdf
Size:
788.11 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Loading...
Thumbnail Image
Name:
2012n740_Malyk_O_P-The_short_range_principle_100-104__COVER.png
Size:
462.78 KB
Format:
Portable Network Graphics

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
3.03 KB
Format:
Plain Text
Description: