Вимірювання перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках

dc.citation.epage56
dc.citation.issue66
dc.citation.journalTitleВимірювальна техніка та метрологія
dc.citation.spage51
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.affiliationНаціональний університет водного господарства і природокористування
dc.contributor.authorЮщук, Степан
dc.contributor.authorЮр'єв, Сергій
dc.contributor.authorЮречко, Роман
dc.contributor.authorНіколайчук, В. Й.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.date.accessioned2020-04-03T08:51:47Z
dc.date.available2020-04-03T08:51:47Z
dc.date.created2006-01-31
dc.date.issued2006-01-31
dc.description.abstractЗапропоновано способи вимірювання і вимірювальні схеми, які застосовувались під час вимірювання перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках. Здійснена оцінка точностей вимірювання.
dc.description.abstractA measuring method and measuring schemes which were used for measuring of transitional contact resistances and their volt−current characteristics on thin films is presented. The estimation of measuring exactnesses has been carried out.
dc.description.abstractПредложено способы и измерительные схемы, которые использовались для измерения переходных вольт-амперных характеристик на тонких пленках. Выполнена оценка точности измерения.
dc.format.extent51-56
dc.format.pages6
dc.identifier.citationВимірювання перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках / Степан Ющук, Сергій Юр'єв, Роман Юречко, В. Й. Ніколайчук // Вимірювальна техніка та метрологія. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2006. — № 66. — С. 51–56.
dc.identifier.citationenVymiriuvannia perekhidnykh kontaktnykh oporiv ta yikhnikh volt-ampernykh kharakterystyk na tonkykh plivkakh / Stepan Yushchuk, Serhii Yuriev, Roman Yurechko, V. Y. Nikolaichuk // Vymiriuvalna tekhnika ta metrolohiia. — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2006. — No 66. — P. 51–56.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/48077
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВимірювальна техніка та метрологія, 66, 2006
dc.relation.references1. Лях−Кагуй Н.С. Низькотемпературні характеристики ниткоподібних кристалів Si1 Gexx і їх застосування для створення елементної бази сенсорів температури та деформації. Автореф. дис...канд. техн. наук: 05.27.01/Нац. ун−т "Львів. політехн.", −Львів, 2004, −20 с.
dc.relation.references2. Стахіра П.Й. Фізико−технологічні засади мікроелектронних сенсорів на основі гетероструктур органічних та неорганічних напівпровіднків. Автореф. дис... доктора техн. наук: 05.27.06/ Нац. ун−т "Львів. політехн.", − Львів, 2005, −30 с.
dc.relation.references3. Датчик для вимірювання температури і магнітного поля/С.С.Варшава, Е.Ф.Венгер, А.В.Прохорович, С.І.Ющук. Патент України на винахід №33148А. 2001. Бюл.№1.
dc.relation.references4. Дубинко С.В. Датчики магнитного поля на основе эпитаксиальных пленок феррит−гранатов//Ученые записки Симферопольского гос. ун−та. − Симферополь, 1997. − №4(43). −С.30−40.
dc.relation.references5. Jakubowska M., Pitt K. Influence of contacts and firing process on properties of thick film resistors on alumina and dielectrics// Journ. Mater. Scince: Materials in Electronics. – 1995. –№6. –P.75–78.
dc.relation.references6. Андерсон В., Мартинес Д., Мэджид А.Г. Электрические характеристики контактов из золота и аквадага, нанесенные на поверхность монокристаллов закиси никеля// Приборы для научных исследований. –1970. –№12. – С.28–30.
dc.relation.references7. Варшава С.С., Лях Н.С., Стасюк Н.М. Нелінійні ефекти в точкових контактах метал–кремній, метал–кремній–германій// Фізика і хімія твердого тіла. –2001. –т.2, №4. –С.727–734
dc.relation.referencesen1. Liakh−Kahui N.S. Nyzkotemperaturni kharakterystyky nytkopodibnykh krystaliv Si1 Gexx i yikh zastosuvannia dlia stvorennia elementnoi bazy sensoriv temperatury ta deformatsii. Avtoref. dys...kand. tekhn. nauk: 05.27.01/Nats. un−t "Lviv. politekhn.", −Lviv, 2004, −20 p.
dc.relation.referencesen2. Stakhira P.Y. Fizyko−tekhnolohichni zasady mikroelektronnykh sensoriv na osnovi heterostruktur orhanichnykh ta neorhanichnykh napivprovidnkiv. Avtoref. dys... doktora tekhn. nauk: 05.27.06/ Nats. un−t "Lviv. politekhn.", − Lviv, 2005, −30 p.
dc.relation.referencesen3. Datchyk dlia vymiriuvannia temperatury i mahnitnoho polia/S.S.Varshava, E.F.Venher, A.V.Prokhorovych, S.I.Yushchuk. Patent Ukrainy na vynakhid No 33148A. 2001. Bull.No 1.
dc.relation.referencesen4. Dubinko S.V. Datchiki mahnitnoho polia na osnove epitaksialnykh plenok ferrit−hranatov//Uchenye zapiski Simferopolskoho hos. un−ta. − Simferopol, 1997. − No 4(43). −P.30−40.
dc.relation.referencesen5. Jakubowska M., Pitt K. Influence of contacts and firing process on properties of thick film resistors on alumina and dielectrics// Journ. Mater. Scince: Materials in Electronics, 1995. –No 6. –P.75–78.
dc.relation.referencesen6. Anderson V., Martines D., Medzhid A.H. Elektricheskie kharakteristiki kontaktov iz zolota i akvadaha, nanesennye na poverkhnost monokristallov zakisi nikelia// Pribory dlia nauchnykh issledovanii. –1970. –No 12, P.28–30.
dc.relation.referencesen7. Varshava S.S., Liakh N.S., Stasiuk N.M. Neliniini efekty v tochkovykh kontaktakh metal–kremnii, metal–kremnii–hermanii// Fizyka i khimiia tverdoho tila. –2001. –V.2, No 4. –P.727–734
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2006
dc.rights.holder© Ющук Степан, Юр'єв Сергій, Юречко Роман, Ніколайчук В. Й., 2006
dc.subject.udc539.23
dc.subject.udc537.311.3.082.7
dc.titleВимірювання перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках
dc.typeArticle

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
2006n66_Iushchuk_S-Vymiriuvannia_perekhidnykh_51-56.pdf
Size:
2.02 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Thumbnail Image
Name:
2006n66_Iushchuk_S-Vymiriuvannia_perekhidnykh_51-56__COVER.png
Size:
432 KB
Format:
Portable Network Graphics

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
3.02 KB
Format:
Plain Text
Description: