High ohmic measurements of thick film glass layer insulators

Simple item page
dc.citation.journalTitleЕлементи теорії та прилади твердотілої електроніки
dc.contributor.affiliationInstitute of Electronic Materials Technology, Polanduk_UA
dc.contributor.affiliationInstitute of Electron Technology, Polanduk_UA
dc.contributor.authorJakubowska, Małgorzata
dc.contributor.authorGrzesiak, Wojciech
dc.coverage.countryUAuk_UA
dc.coverage.placenameЛьвівuk_UA
dc.date.accessioned2018-08-28T14:09:27Z
dc.date.available2018-08-28T14:09:27Z
dc.date.issued2002
dc.format.pages76–81
dc.identifier.citationJakubowska M. High ohmic measurements of thick film glass layer insulators / M. Jakubowska, W. Grzesiak // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2002. – № 458 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – С. 76–81. – Bibliography: 4 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/42522
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету "Львівська політехніка"uk_UA
dc.relation.references[1] Jakubowska М., Pitt K., Influence, of the contacts and firing process on the properties of thick film resistors on alumina and dielectrics, Journal of Materials Science: Materials in Electronics, no 6, 1995, s.75-78. [2] Achmatowicz S, Jakubowska М., Zwierkowska E., Szczytko B., Szymanski D., Pasta izolacyjna, Patent RP, nr. 162992, in Polish. [3] Jakubowska М., et al, The New Thick Film Paste Based on Cubic Boron Nitride, Proc. of XXVI Int. Corf. of IMAPS Poland Chapter, Warsaw, 25-27 Sept. 2002, p. 70-74. [4] Grzesiak W, Analysis of Resistance vs. Votage dependence in Low Regions for Precisions Value Resistors, Proc. of European Microelectronics, Packaging and Interconnection Symposium, Cracow 2002, Poland, 16-18 June 2002 , p. 346-349.uk_UA
dc.rights.holder© Małgorzata Jakubowska, Wojciech Grzesiak, 2002uk_UA
dc.titleHigh ohmic measurements of thick film glass layer insulatorsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
15_76-81.pdf
Size:
159.13 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download

Collections

Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2002. – №458