Розсіяння важких дірок на близькодіючому потенціалі кристалічних дефектів у твердому розчині ZnxCd1-xTe (0.16 ≤ x ≤ 0.9)

dc.contributor.authorМалик, О. П.
dc.date.accessioned2010-02-24T17:38:08Z
dc.date.available2010-02-24T17:38:08Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractРозглянуто процеси розсіяння носія заряду на близькодіючому потенціалі, обумовленому взаємодією з полярними та неполярними оптичними фононами, п’єзоелектричними та акустичними фононами, полем статичної деформації, іонізованими та нейтральними домішками в ZnxCd1-xTe (0.16 £ x £ 0.9). Розраховано температурні залежності рухливості важких дірок в інтервалі 50–300K. The processes of the charge carrier scattering on the short-range potential caused by interaction with polar and nonpolar optical phonons, piezoelectric and acoustic phonons, static strain, neutral and ionized impurities in ZnxCd1-xTe (0.16 £ x £ 0.8) are considered. The temperature dependences of the heavy-hole mobility in temperature range 50–300 K are calculated.uk
dc.identifier.citationМалик О. П. Розсіяння важких дірок на близькодіючому потенціалі кристалічних дефектів у твердому розчині ZnxCd1-xTe (0.16 ≤ x ≤ 0.9) / О. П. Малик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 646 : Електроніка. – С. 158–163. – Бібліографія: 31 назвa.uk
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2601
dc.language.isouauk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”uk
dc.subjectрозсіяння носія зарядуuk
dc.subjectрухливість важких дірокuk
dc.subjectcharge carrier scatteringuk
dc.subjectheavy-hole mobilityuk
dc.titleРозсіяння важких дірок на близькодіючому потенціалі кристалічних дефектів у твердому розчині ZnxCd1-xTe (0.16 ≤ x ≤ 0.9)uk
dc.title.alternativeHeavy-hole scattering on the short-range potential of the crystal lattice defects in znxcd1-xte (0.16 ≤ x ≤ 0.9) solid solution
dc.typeArticleuk

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
23.pdf
Size:
401.09 KB
Format:
Adobe Portable Document Format