Врахування ефекту консервації заряду в BSIM-моделях

Loading...
Thumbnail Image

Date

2004

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»

Abstract

Розглядаються особливості реалізації і застосування взаємних ємностей, які відображають ефект консервації заряду в КМОН-моделях на прикладі моделі BS1M3 версії v3. Charge Conservation approach in CMOS models on the basis of BSlM3v3 is discussed. Approaches for realization of basic functions of model parameters accounting are proposed.

Description

Keywords

Citation

Корначевський Я. Врахування ефекту консервації заряду в BSIM-моделях / Я. Корначевський // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2004. – № 501 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика. – С. 137–140. – Бібліографія: 8 назв.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By