Муаровий метод контролю растрів скануючого оптичного стереомікроскопа на базі ЕПТ
No Thumbnail Available
Date
2003
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»
Abstract
Розглянуто метод візуального контролю геометричних спотворень растрів на ЕПТ, узгоджений з вимогами стандартів. Метод базується на використанні комбінаційних смуг при оптичному спряженні досліджуваного растра з еталонним. Показано, що при цьому можуть бути оперативно проконтрольовані спотворення порядку десятих часток відсотка по всьому робочому полю одночасно. The method of CRT raster geometric distortions visual control is discussed in this paper. This method is conjugated with standard’s demands. The method is based on using of combinations strips at optical conjugation of raster under investigation with reference one. It is shown that distortions of tenth’s parts percents order on the raster can be controlled at once.
Description
Keywords
Citation
Педан А. Муаровий метод контролю растрів скануючого оптичного стереомікроскопа на базі ЕПТ / Анатолій Педан, Богдана Любинецька // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2003. – № 477 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 92–97. – Бібліографія: 6 назв.