Вплив лазерно-індукованих ударних хвиль на електрофізичні параметри HG1-xCDxTE (х=0.2)

dc.contributor.authorЯковина, В. С.
dc.contributor.authorНікіфоров, Ю. М.
dc.contributor.authorБерченко, М. М.
dc.date.accessioned2012-02-09T09:37:19Z
dc.date.available2012-02-09T09:37:19Z
dc.date.issued2000
dc.description.abstractОб'ємні монокристали Hg0.8Cd0.2Te n-типу обробляли лазерно-індукованими ударними хвилями (ЛУХ) без термічного впливу. Показано, що зміни концентрації носіїв заряду становлять до 120 %, а їх рухливості до 45 % від вихідної. Пропонується пояснення цих змін взаємною дією трьох механізмів взаємодії ЛУХ з дефектною підсистемою кристалів Hg1-XCdXTe. Bulk n- Hg0.8Cd0.2Te samples were treated using laser induced shock waves (LSW) without thermal effects. It is shown that the carrier density changes up to 120 % and their mobility changes up to 45 %. Three mechanisms of interaction between LSW and bulk Hg1-XCdXTe defect subsystem are given.uk_UA
dc.identifier.citationЯковина В. С. Вплив лазерно-індукованих ударних хвиль на електрофізичні параметри HG1-xCDxTE (х=0.2) / В. С. Яковина, Ю. М. Нікіфоров, М. М. Берченко // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2000. – № 397 : Електроніка. – С. 87–91. – Бібліографія: 7 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/11428
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Державного університету "Львівська політехніка"uk_UA
dc.titleВплив лазерно-індукованих ударних хвиль на електрофізичні параметри HG1-xCDxTE (х=0.2)uk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
15.pdf
Size:
1.24 MB
Format:
Adobe Portable Document Format