Дослідження та аналіз стабільності інтегрального низьковольтного джерела опорної напруги

dc.contributor.authorГоляка, Р. Л.
dc.contributor.authorЄрашок, В. Е.
dc.contributor.authorМаксимів, І. В.
dc.date.accessioned2012-02-09T09:46:51Z
dc.date.available2012-02-09T09:46:51Z
dc.date.issued2000
dc.description.abstractРозглянуто результати розробки інтегрального низьковольтного джерела опорної напруги на принципі формування напруги, яка числово дорівнює ширині забороненої зони кремнію. Проведено дослідження та аналіз стабільності дже- рела при зміні температури та напруги живлення. Results of development are discussed concerning the low-level reference voltage source based on the principle of forming a potential equivalent to the silicon bandgap width. Investigations are performed and analysis is carried out at changing temperature and supply voltage.uk_UA
dc.identifier.citationГоляка Р. Л. Дослідження та аналіз стабільності інтегрального низьковольтного джерела опорної напруги / Р. Л. Голяка, В. Е. Єрашок, І. В. Максимів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2000. – № 397 : Електроніка. – С. 32–36. – Бібліографія: 3 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/11431
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Державного університету "Львівська політехніка"uk_UA
dc.titleДослідження та аналіз стабільності інтегрального низьковольтного джерела опорної напругиuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
06.pdf
Size:
1.3 MB
Format:
Adobe Portable Document Format