До питання про кінетику ізотермічної деградації напівпровідникової терморезисторної кераміки Cu0.1Nio.8Co2 2Mn1.904

Abstract

Обговорюються результати дослідження термічної деградації терморезисторів на основі керамічних напівпровідникових композитів CuojNio.sCoo^Mni.ijO^ Встановлено, що аналітичним виразом кінетики цього процесу є релаксаційна функція ДеБаста - Джіларда або Уїльямса - Уотса. Отриманий результат підтверджує той факт, що в дисперсно-розпорядкованих системах ізотермічна деградація того чи іншого парам етра носить експоненціально-степеневий характер.The results on thermal degradation in thermistors based on CucuNio gCoo.aMn1.9 ceramic semiconductor composites are discussed. It is established that relaxation function of DeBast and Gillard or Williams and Watts is the analytical expression for kinetic of this process, The obtained result confirms the fact that in the dispersive-disordered systems the degradation of any parameter has the stretched-exponential character.