Аналіз модуляційного режиму в атомно-силовій мікроскопії на основі кантелівера механічного типу
No Thumbnail Available
Date
2013
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Львівської політехніки
Abstract
Розглянуто та проаналізовано модуляційний режим під час сканування поверхні атомно-силовим мікроскопом на основі кантелівера механічного типу. Розвинений метод розрахунку сил Ван-дер-Ваальса для конфігурування взаємодії тіл. This paper is considered and analyzes the modulation mode by scanning the surface of an atomic force microscope based cantilever mechanical type. The developed method for calculating the forces Van der Vals to configure the interaction of bodies.
Description
Keywords
кантелівер, атомно-силовий мікроскоп, зонд, мікроскоп, cantilever, atomic force microscope, probe, microscope
Citation
Дупак Б. Аналіз модуляційного режиму в атомно-силовій мікроскопії на основі кантелівера механічного типу / Б. Дупак, Р. Іванців, П. Кособуцький // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2013. – № 771 : Комп’ютерні науки та інформаційні технології. – С. 234–237. – Бібліографія: 7 назв.