Теплофізична оптоволоконна вимірювальна система

Simple item page
dc.citation.epage71
dc.citation.issue454 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.spage63
dc.contributor.affiliationНаціональний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.authorВодотовка, В. І.
dc.contributor.authorРепа, Ф. М.
dc.contributor.authorЮрчик, Г. В.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.date.accessioned2019-08-21T13:26:15Z
dc.date.available2019-08-21T13:26:15Z
dc.date.created2002-03-26
dc.date.issued2002-03-26
dc.description.abstractРозглянуто принцип побудови вимірювальної системи нерівномірності мікрохвильового електромагнітного поля (ЕМП), інваріантної до прогресуючих похибок первинних перетворювачів та стійкої до неінформативного впливу потужного мікрохвильового ЕМП.
dc.description.abstractThis paper deal with the principle of construction measuring unevenness system electromagnetic field (EMF), which is invariant progressing errors of primary convertors and steady to uninformative influence power EMF.
dc.format.extent63-71
dc.format.pages9
dc.identifier.citationВодотовка В. І. Теплофізична оптоволоконна вимірювальна система / В. І. Водотовка, Ф. М. Репа, Г. В. Юрчик // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 454 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — С. 63–71.
dc.identifier.citationenVodotovka V. I. Teplofizychna optovolokonna vymiriuvalna systema / V. I. Vodotovka, F. M. Repa, H. V. Yurchyk // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2002. — No 454 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — P. 63–71.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/45257
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 454 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки, 2002
dc.relation.references1. Репа Ф. М. Принципы построения измерителей СВЧ энергии в радиотехнических сист ем ах т ехнологического назначения // Электроника и связь. - 1998, - № 5. - С . 29 - 33.
dc.relation.references2. Силаев М . А ., Брянцев С . Ф. Приложение матриц и графов к анализу СВЧ устройств. - М. 1970. - 248 с.
dc.relation.references3. Туз Ю. М. Структурные методы повышения точности измерительных устройств. - К, 1976. - 256 с.
dc.relation.references4. Бутусов М.М., Галкин С.Л., Оробинский С.П., Пал П.П. Волоконная оптика и приборостроение / Под. ред. М. М. Бутусова. -77., 1987. - 328 с.
dc.relation.referencesen1. Repa F. M. Printsipy postroeniia izmeritelei SVCh enerhii v radiotekhnicheskikh sist em akh t ekhnolohicheskoho naznacheniia, Elektronika i sviaz, 1998, No 5, S . 29 - 33.
dc.relation.referencesen2. Silaev M . A ., Briantsev S . F. Prilozhenie matrits i hrafov k analizu SVCh ustroistv, M. 1970, 248 p.
dc.relation.referencesen3. Tuz Iu. M. Strukturnye metody povysheniia tochnosti izmeritelnykh ustroistv, K, 1976, 256 p.
dc.relation.referencesen4. Butusov M.M., Halkin S.L., Orobinskii S.P., Pal P.P. Volokonnaia optika i priborostroenie, Pod. red. M. M. Butusova. -77., 1987, 328 p.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2002
dc.rights.holder© Водотовка B. I., Репа Ф. М., Юрчик Г. В., 2002
dc.subject.udc621.317.1
dc.titleТеплофізична оптоволоконна вимірювальна система
dc.typeArticle

Files

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.99 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2002. – №454