Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2004. – №510

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/30985

У Віснику опубліковано результати науково-дослідних робіт професорсько-викладацького складу, аспірантів та докторантів електрофізичного факультету Державного університету “Львівська політехніка”, науковців та викладачів із провідних вищих закладів освіти та академічних інститутів. У Віснику публікуються роботи провідних вчених Республіки Польща. Тематика робіт пов’язана з питаннями теорії фізики напівпровідників та напівпровідникових приладів, теоретичними і практичними проблемами мікроелектроніки та сенсорної техніки. Для викладачів, наукових співробітників, аспірантів, інженерів, студентів.

Вісник Національного університету "Львівська політехніка" : [збірник наукових праць] : публікації за матеріалами 8-го міжнародного симпозіуму "Технології мікроелектроніки та мікросистеми", 14-16 жовтня 2004 року / Міністерство освіти і науки України, Національний університет "Львівська політехніка. – Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2004. – № 510 : Елементи теорії та прилади твердої електроніки / відповідальний редактор Я. С. Буджак. – 132 с. : іл.

Browse

Filters

20042

Settings

Author: search.filters.author.Andonova, A. S.

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Practical considerations for lc differntial oscillators design
    (Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2004) Nachev, R. G.; Ivanov, K. P.; Hristov, M. H.; Ovcharov, S. Y.; Andonova, A. S.
    Practical design of LC differential oscillators faces several challenges - achievement of sufficient output power, reliable start-up of the oscillator, low power consumption and etc. This paper attempts to give analytical expressions for these quantities with the aim to facilitate the design of LC differential oscillators. The paper presents derivation of the Van der Pol differential equation for LC differential oscillators. The condition for reliable start-up is formulated using the Van der Pol equation. Analytical expression for the output amplitude based on a simple oscillator model is also derived. Comparison between the analytical and simulated results is done and it shows a very good agreement.
  • Thumbnail Image
    Item
    Minimizing time for test in integrated circuit
    (Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2004) Andonova, A. S.; Dimitrov, D. G.; Atanasova, N. G.
    The cost for testing integrated circuits represents a growing percentage of the total cost for their production. The former strictly depends on the length of the test session, and its reduction has been the target of many efforts in the past. This paper proposes a new method for reducing the test length by adopting a new architecture and exploiting an evolutionary optimisation algorithm. A prototype of the proposed approach was tested on 1SCAS standard benchmarks and theexperimental results show its effectiveness.