Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2005. – №542

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47339

Вісник Національного університету “Львівська політехніка”

У Віснику опубліковано результати науково-дослідних робіт професорсько-викладацького складу, аспірантів та докторантів інституту телекомунікації, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету “Львівська політехніка”, науковців та викладачів із провідних вищих навчальних закладів та академічних інститутів та провідних вчених Республіки Польща та Англії. Тематика робіт пов’язана з питаннями теорії фізики напівпровідників та напівпровідникових приладів, теоретичними і практичними проблемами мікроелектроніки та сенсорної техніки. Для викладачів, наукових співробітників, аспірантів, інженерів, студентів.

Вісник Національного університету “Львівська політехніка” : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки України, Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. – № 542 : Елементи теорії та прилади твердої електроніки / відповідальний редактор Я. С. Буджак. – 111 с. : іл.

Вісник Національного університету “Львівська політехніка”

Зміст


1
3
8
14
26
30
35
40
45
52
56
60
64
71
75
81
85
89
95
98
101
110

Content


1
3
8
14
26
30
35
40
45
52
56
60
64
71
75
81
85
89
95
98
101
110

Browse

Search Results

Now showing 1 - 1 of 1
  • Thumbnail Image
    Item
    Вимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів
    (Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005-03-01) Микитюк, З. М.; Готра, О. З.; Сушинський, О. Є.; Скочиляс, М.; Гураль, В. В.; Національний університет “Львівська політехніка”; Львівський національний медичний університет імені Данила Галицького; Жешувська політехніка
    Розглянуто можливості створення вимірювального комплексу для досліджень електрооптичних характеристик рідкокристалічних матеріалів. Запропоновано використання мікроконтролерів для оптимізації вимірювальних методик досліджень рідкокристалічних модуляторів лазерного випромінювання, що суттєво покращило точність вимірювання.