Вимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів
Date
2005-03-01
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
Abstract
Розглянуто можливості створення вимірювального комплексу для досліджень електрооптичних характеристик рідкокристалічних матеріалів. Запропоновано використання мікроконтролерів для оптимізації вимірювальних методик досліджень рідкокристалічних модуляторів лазерного випромінювання, що суттєво покращило точність вимірювання.
The creation of measurement сomplex for investigating of liquid crystal materials elektrooptical characteristics was described in this paper. The microkontroles using for optimization of investigation measurement methods of liquid crystal modulators of laser radiation, which permit to increase of measurements accuracy
The creation of measurement сomplex for investigating of liquid crystal materials elektrooptical characteristics was described in this paper. The microkontroles using for optimization of investigation measurement methods of liquid crystal modulators of laser radiation, which permit to increase of measurements accuracy
Description
Keywords
Citation
Вимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів / З. М. Микитюк, О. З. Готра, О. Є. Сушинський, М. Скочиляс, В. В. Гураль // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 542 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — С. 60–64.