Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки

Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/8439

Browse

Search Results

Now showing 1 - 4 of 4
  • Thumbnail Image
    Item
    Capacitive couplings of parallel conducting path systems in hybrid microcircuit
    (Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005-03-01) Wisz, Bogusław; Rzeszów University of Technology
    Наведено застосування методу інтегралів Фур'є для визначення паразитних ємностей у паралельних провідних системах. В розглянутому випадку два паралельних провідники однакової ширини розміщені з одного боку діелектричної підкладки визначеної довжини. Запропонований метод базується на розв’язанні тривимірної крайової задачі. Зображений електричний потенціал у формі інтегралів Фур’є виконує умову Лапласа. Як результат отримано систему рівнянь, яка описує розподіл електричних зарядів. Застосовано числовий метод розв’язання системи, який дозволив розрахувати ємність між провідниками.
  • Thumbnail Image
    Item
    Inductive couplings in hybrid microcircuit structures
    (Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002-03-26) Hotra, Zenon; Wisz, Bogusław; Kalita, Włodzimierz; Sabat, Wiesław; Department of Electronic Devices; Department of Electronic Systems and Telecommunication; Rzeszów University o f Technology
    Розглянуто проблему, яка стосується аналізу індуктивних зв’язків між провідними доріжками в мікроелектронних гібридних мікросхемах. Описано алгоритм, який дає змогу визначати власну і взаємну індуктивність для систем з взасмнопаралельними провідними доріжками необмеженої довжини. Проведено аналіз ефективності алгоритму для вибраної системи доріжок за допомогою тестового імпульсу струму Сержа. Визначено вплив імпедансного навантаження та геометричних і фізичних параметрів провідних систем на рівень генерованих взаємних завад у гібридній мікросхемі.
  • Thumbnail Image
    Item
    Using of moment method for parasitic parameters of printed circuits in planar structures
    (Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2002) Sabat, Wiesław; Kalita, Włodzimierz; Wisz, Bogusław; Sperling, Dieter; Rzeszów University of Technology
    This paper presents using of moment methodfor printed circuit residual parameters’ calculation in single-layer planar structures. In accordance to the method’s assumptions, the relations specifying the potential coefficients for printed circuit with arbitral geometric parameters were determined. Using the Mathcad program, basing on the relations as referred to above, the program was developed for calculation of unitary matrices of parasitic capacities and inductances of printed circuit of mutually parallel lines. In order to verify the developed program operation, the hybrid test printed circuits with different geometric parameters were made. The correctness of calculation procedures within the developed program was experimentally verified using the direct measurement for the capacity and the indirect measurement for the inductance.
  • Thumbnail Image
    Item
    Laboratory circuit to measure small capacity
    (Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2002) Chamiecki, Andrzej; Schwarz, Ulrich; Wisz, Bogusław; Zając, Kazimierz; Hybres Electronics Ltd., Rzeszów, Poland; Fachhochschule Südwestfalen, Soest, Germany; Rzeszów University of Technology, Dept. of Electronic and Communication Systems, Poland
    This paper presents simple method for small capacity measurement that is based on the operational amplifier oprating as an integrator with the polarization current compensation. Basing on this concept, the laboratory measurement circuit was designed and realized. The developed method accounts also for the circuit self-capacity that in turn allows for measurement error reduction up to 10 % for capacity of several pF. The experiment results were presented, and the measurement results were discussed.