Physical properties of thin ZnO layers
Loading...
Files
Date
2012
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Львівської політехніки
Abstract
It has been investigations the photoluminescence spectra, form of the surface and x-ray diffraction analyzing of ZnO epitaxial layers grown by VPE and MOCVD technology.
Description
Keywords
zinc oxide, photoluminescence, x-ray diffraction analyzing, morphology of surface
Citation
Physical properties of thin ZnO layers / M. F. Bulanyi, O. V. Kovalenko, A. R. Omelchuk, K. Yu. Polozov, O. V. Skuratovskaya // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 534. – Bibliography: 2 titles.