Метод комбінаційного розсіювання світла в термометрії поверхні мікрооб’єктів

Abstract

Здійснено аналіз вимірювання температури методом комбінаційного розсіювання світла та проведено оцінювання метрологічних характеристик методу. Об’єктом дослідження вибрано мікроконтролер. Осуществлен анализ измерения температуры методом комбинационного рассеяния света, проведено оценивание метрологических характеристик метода. Объектом исследования выбрано микроконтроллер. Errors of the temperature transducer constructed on the basis of the Raman effect are estimated applying the analysis for metrological characteristic divergence. The object of study was chosen microcontroller.