Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS

Loading...
Thumbnail Image

Date

2013

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Львівської політехніки

Abstract

Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтро- лерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS за різних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of microcontroller’s hardware random number generator of family STM32F4XX with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS at the different values of clock rate. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators in cryptographic applications.

Description

Keywords

генератори випадкових чисел, тести NIST STS, STM32F4xx, random number generators, NIST STS tests, STM32F4xx

Citation

Совин Я. Р. Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, М. Ю. Стахів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2013. – № 753 : Автоматика, вимірювання та керування. – C. 37–44. – Бібліографія: 10 назв.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By