Вимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів

Simple item page
dc.citation.epage64
dc.citation.issue542 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.spage60
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.affiliationЛьвівський національний медичний університет імені Данила Галицького
dc.contributor.affiliationЖешувська політехніка
dc.contributor.authorМикитюк, З. М.
dc.contributor.authorГотра, О. З.
dc.contributor.authorСушинський, О. Є.
dc.contributor.authorСкочиляс, М.
dc.contributor.authorГураль, В. В.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.date.accessioned2020-03-12T13:44:17Z
dc.date.available2020-03-12T13:44:17Z
dc.date.created2005-03-01
dc.date.issued2005-03-01
dc.description.abstractРозглянуто можливості створення вимірювального комплексу для досліджень електрооптичних характеристик рідкокристалічних матеріалів. Запропоновано використання мікроконтролерів для оптимізації вимірювальних методик досліджень рідкокристалічних модуляторів лазерного випромінювання, що суттєво покращило точність вимірювання.
dc.description.abstractThe creation of measurement сomplex for investigating of liquid crystal materials elektrooptical characteristics was described in this paper. The microkontroles using for optimization of investigation measurement methods of liquid crystal modulators of laser radiation, which permit to increase of measurements accuracy
dc.format.extent60-64
dc.format.pages5
dc.identifier.citationВимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів / З. М. Микитюк, О. З. Готра, О. Є. Сушинський, М. Скочиляс, В. В. Гураль // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 542 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — С. 60–64.
dc.identifier.citationenVymiriuvalnyi kompleks dlia doslidzhen elektrooptychnykh kharakterystyk ridkykh krystaliv / Z. M. Mykytiuk, O. Z. Hotra, O. Ye. Sushynskyi, M. Skochylias, V. V. Hural // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 542 : Elementy teorii ta prylady tverdotiloi elektroniky. — P. 60–64.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47343
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 542 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки, 2005
dc.relation.references1. Cypress MicroSystems, CY8C25122, CY8C26233, CY8C26443, CY8C26643 Device Data Sheet for Silicon Revision AD, Doc. #38-12010 CY Rev. 3.21.
dc.relation.references2. Rick Hood, “The PSoC 5-Cent Modem”, Circuit Cellar, 146, 26-32, 2002.
dc.relation.references3. Капустин А.П. Экспериментальные исследования жидких кристаллов. – М.: Наука. 1978. – 368 с. Гребенкин М. Ф., Иващенко А. В. // Жидкокристаллические материалы – М.: Химия, 1989. – 288 с.
dc.relation.referencesen1. Cypress MicroSystems, CY8C25122, CY8C26233, CY8C26443, CY8C26643 Device Data Sheet for Silicon Revision AD, Doc. #38-12010 CY Rev. 3.21.
dc.relation.referencesen2. Rick Hood, "The PSoC 5-Cent Modem", Circuit Cellar, 146, 26-32, 2002.
dc.relation.referencesen3. Kapustin A.P. Eksperimentalnye issledovaniia zhidkikh kristallov, M., Nauka. 1978, 368 p. Hrebenkin M. F., Ivashchenko A. V., Zhidkokristallicheskie materialy – M., Khimiia, 1989, 288 p.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2005
dc.rights.holder© Микитюк З. М., Готра О. З., Сушинський О. Є., Скочиляс М., Гураль В. В., 2005
dc.subject.udc532.738
dc.titleВимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів
dc.typeArticle

Files

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
3.04 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2005. – №542