Верифікація температурних моделей елементів термосенсорних ІС
No Thumbnail Available
Files
Date
2000
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Державного університету “Львівська політехніка”
Abstract
Розглянуто алгоритм верифікації температурних моделей p-n переходів транзисторних структур, що використовуються як первинні перетворювачі термосенсорних біполярних інтегральних схем. У процесі верифікації моделей ППП ”Spice” можливе досягнення невідповідності між ними та характеристикою реальних структур ІС в межах (-0,8...0,7)% в температурному діапазоні (- 50...+100)0С. The algorythm of verification of temperature models of p-n transistor structures
that are used as primary transducers of thermosensitive bipolar integrated circuits is
shown. In the process of verification of models of ”Spice” it is possible to achieve the noncorrespondence between them and characteristic of real structures of IC in the range of (-0,8...0,7)% in the temperature range of (-50...+100)0С.
Description
Keywords
Citation
Готра О. З. Верифікація температурних моделей елементів термосенсорних ІС / О. З. Готра // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2000. – № 393 : Елементи теорії та прилади твердої електроніки. – С. 85–91. – Бібліографія: 2 назви.