Верифікація температурних моделей елементів термосенсорних ІС

dc.contributor.authorГотра, О. З.
dc.date.accessioned2011-05-28T09:20:39Z
dc.date.available2011-05-28T09:20:39Z
dc.date.issued2000
dc.description.abstractРозглянуто алгоритм верифікації температурних моделей p-n переходів транзисторних структур, що використовуються як первинні перетворювачі термосенсорних біполярних інтегральних схем. У процесі верифікації моделей ППП ”Spice” можливе досягнення невідповідності між ними та характеристикою реальних структур ІС в межах (-0,8...0,7)% в температурному діапазоні (- 50...+100)0С. The algorythm of verification of temperature models of p-n transistor structures that are used as primary transducers of thermosensitive bipolar integrated circuits is shown. In the process of verification of models of ”Spice” it is possible to achieve the noncorrespondence between them and characteristic of real structures of IC in the range of (-0,8...0,7)% in the temperature range of (-50...+100)0С.uk_UA
dc.identifier.citationГотра О. З. Верифікація температурних моделей елементів термосенсорних ІС / О. З. Готра // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2000. – № 393 : Елементи теорії та прилади твердої електроніки. – С. 85–91. – Бібліографія: 2 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/9195
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Державного університету “Львівська політехніка”uk_UA
dc.titleВерифікація температурних моделей елементів термосенсорних ІСuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
18.pdf
Size:
1.78 MB
Format:
Adobe Portable Document Format