Метод оптимізації дисперсійних характеристик тонкоплівкових оптичних матеріалів

dc.citation.journalTitleВісник Національного університету "Львівська політехніка"
dc.contributor.affiliationНаціональний університет "Львівська політехніка"uk_UA
dc.contributor.authorПетровська, Г. А.
dc.contributor.authorРедько, Т. А.
dc.coverage.countryUAuk_UA
dc.coverage.placenameЛьвівuk_UA
dc.date.accessioned2018-03-12T10:55:24Z
dc.date.available2018-03-12T10:55:24Z
dc.date.issued2002
dc.description.abstractРозроблено програмне забезпечення для визначення дисперсій показників заломлення і поглинання тонкоплівкових оптичних матеріалів за експериментальною залежністю коефіцієнта пропускання чи відбивання тонкої плівки від довжини хвилі. Визначені оптичні константи деяких тонкоплівкових матеріалів на основі тугоплавких окислів, осаджених методом електронно-променевого розпилення у вакуумі. Досліджені залежності дисперсійних характеристик від умов осадження плівок та вибрані оптимальні технологічні режими. The software for determination of dispersion of refraction index and absorption index of thin-film optical materials with experimental dependence of a transmission factor or reflection factor of a thin film from wave length is developed. The optical constants of some thin-film materials of refractory oxides deposited by a method of electron-beam evaporation in vacuum are determined. Dependencies of dispersing from conditions of a evaporation of thin-films are investigated and the optimum technological modes are selected.uk_UA
dc.format.pages39-44
dc.identifier.citationПетровська Г. А. Метод оптимізації дисперсійних характеристик тонкоплівкових оптичних матеріалів / Г. А. Петровська, Т. А. Редько // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2002. – № 455 : Електроніка. – С. 39–44. – Бібліографія: 3 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/39583
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету "Львівська політехніка"uk_UA
dc.relation.references1. Dobrowolski J.A., Ho F.C., Waldorf A. //Appliedoptics. -1983. - 22, № 20. - P. 3191-3200. 2. Борн М., Волъф Э. Основы оптики. - М., 1970. 3. Шуп Т. Решение инженерныгх задач на ЭВМ. - М., 1982.uk_UA
dc.rights.holderПетровська Г. А., Редько Т. А., 2002uk_UA
dc.subject.udc621.375.826uk_UA
dc.titleМетод оптимізації дисперсійних характеристик тонкоплівкових оптичних матеріалівuk_UA
dc.title.alternativeMethod of optimization of dispersed performances of thin-film optical materialsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
8_39-44.pdf
Size:
156.22 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description: