Електроніка. – 2009. – №646

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2525

Вісник Національного університету "Львівська політехніка"

У Віснику опубліковані результати наукові-технічних досліджень у галузі технологічних, експериментальних, теоретичних та методологічних проблем електроніки та оптоелектроніки, фізики і техніки напівпровідників та напівпровідникового матеріалознавства, фізики твердого тіла, фізики, техніки та використання елементів, приладів та систем сучасної електронної техніки. Тематика Вісника Національного університету “Львівська політехніка” “Електроніка” охоплює такі розділи електроніки: матеріали електронної техніки; фізика, технологія та виробництво елементів, приладів та систем електронної техніки; фізика і техніка напівпровідників, металів, діелектриків та рідких кристалів; експериментальні та теоретичні дослідження електронних процесів; методика досліджень. У Віснику “Електроніка” публікуються оглядові та дослідницькі роботи, присвячені його тематиці (але не обмежені лише нею). Роботи можуть подавати як співробітники Львівської політехніки, так і будь-яких інших навчальних чи наукових закладів. Роботи авторів з України друкуються українською мовою. Для наукових працівників, інженерів і студентів старших курсів електрофізичних та технологічних спеціальностей.

Вісник Національного університету «Львівська політехніка» : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки України, Національний університет «Львівська політехніка» – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2009. – № 646 : Електроніка / відповідальний редактор Д. Заярчук. – 228 с. : іл.

Browse

Search Results

Now showing 1 - 3 of 3
  • Thumbnail Image
    Item
    Модель інфрачервоних тонкоплівкових фільтрів на основі інтерференційного дзеркала
    (Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2009) Яремчук, І. Я.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.
    Запропоновано нову структуру інфрачервоних смугових інтерференційних фільтрів та наведено алгоритм їх аналізу. Аналітично отримані співвідношення, які пов'язують показники заломлення усіх шарів у фільтрах типу “шар з високим показником заломлення - інтерференційне дзеркало – шар з високим показником заломлення”. За допомогою отриманих залежностей визначено такі параметри, як товщина та показник заломлення шарів з високим показником заломлення, що обмежують інтерференційне дзеркало. Design the new structure of interference band-pass infrared filter and new algorithm analysis is proposed.The analytic expressions for the analysis structure “layer with the high refractive іndex – interference mirror – layer with the high refractive index” are obtained. The refractive indices optimal and thicknesses of individual layers that limited interference mirror are obtained.
  • Thumbnail Image
    Item
    Фототепловий метод визначення параметрів тонких плівок
    (Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2009) Демкович, І. В.; Петровська, Г. А.; Бобицький, Я. В.
    Розроблено фототепловий метод контролю параметрів тонкоплівкових покриттів, зокрема, поглинання, температуропровідності, товщини. Для реалізації методу розроблено математичну модель та програмне забезпечення, що дає змогу числовими методами розрахувати просторово-часовий розподіл температурних змін на поверхні досліджуваного зразка типу “підкладка-плівка” за опромінення його лазерним пучком з заданими енергетичними та просторово-часовими характеристиками. Проведено теоретичнi дослідження, що дасть змогу встановити залежність теплового відгуку на поверхні зразка від параметрів покриття під час використання імпульсного збуджувального випромінювання. The photothermal method of control of the thin-film coating parameters (absorption, thermal conductivity, thicknesses) is developed. The mathematical model and the developed software allow to determinate the spatial-temporal distribution of temperature changes on the surface of the investigated “substrate-film” sample caused by laser irradiation under given parameters of the laser beam.The theoretical investigations allow to determine the dependence of the thermal response on the surface of the sample from the parameters of coatings under heating by continuous and pulse exciting radiation.
  • Thumbnail Image
    Item
    Адгезія та надійність струмопровідних шарів, виготовлених струменевим друком наночастинок срібла
    (Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2009) Лесюк, Р. І.; Бобицький, Я. В.; Їллек, В.; Савчук, В. К.; Котлярчук, Б. К.
    Проведені дослідження адгезії та деградаційної стійкості струмопровідних доріжок, виготовлених струменевим друком наночастинок срібла в органічній матриці для потреб електроніки. Результати свідчать про відповідність адгезії струмопровідних шарів технічним вимогам після спікання “наночорнила” за температури 200–300 оС. Зафіксовано зростання адгезії із зростанням температури спікання. Проведені випробування зразків у камерах штучного прискореного старіння на предмет вологостійкості та стійкості до перепадів температур. The adhesion and reliability (degradation persistence) of conductive tracks, produced by ink-jet printing of silver nanoparticles in organic matrix, are investigated. Results indicate, that fabricated interconnects meet the requirements to adhesion of PCB conductive tracks after sintering by 200–300 oC. The increase of adhesion with the temperature іs shown. The investigations of durability to high humidity conditions and temperature shock are in cameras of fast artificial aging were carried out.